[实用新型]欠压锁存电路有效
申请号: | 201220485348.0 | 申请日: | 2012-09-21 |
公开(公告)号: | CN202798616U | 公开(公告)日: | 2013-03-13 |
发明(设计)人: | 王晓娟;王纪云;周晓东 | 申请(专利权)人: | 郑州单点科技软件有限公司 |
主分类号: | H03K3/013 | 分类号: | H03K3/013 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 450016 河南省郑州市经*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 欠压锁存 电路 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种欠压锁存电路。
背景技术
在PC及便携式电子设备中,一般都具有中央处理芯片、存储装置及外围电路,外接电源突然断电或电池电压降低,都会影响到正在处理的工作或数据,因此在电压出现欠压的时候需要对电压进行锁存。现有的欠压锁存电路结构复杂,自身功耗较大,不利于在便携式电子产品的应用。
实用新型内容
本实用新型的发明目的在于:针对上述存在的问题,提供一种欠压锁存电路。
本实用新型采用的技术方案是这样的:一种欠压锁存电路,所述电路包括欠压锁存电压信号输出端,还包括三只PNP晶体管、三只NPN晶体管、肖特基势垒二极管以及由电容和电阻并联构成的RC电路。
所述肖特基势垒二极管的阳极接地,阴极连接至第一PMOS晶体管的栅极、第二PMOS晶体管的栅极、第一NMOS晶体管的栅极和第二NMOS晶体管的栅极,该阴极还通过RC电路连接至电压源;欠压锁存电压信号输出端连接至第二PMOS晶体管的漏极、第一NMOS晶体管的漏极、第三POS晶体管的栅极和第三NMOS晶体管的栅极;所述第一PMOS晶体管的源极连接至电压源,漏极连接至第二PMOS晶体管的源极和第三PMOS晶体管的源极;所述第二NMOS晶体管的源极接地,漏极连接至第一NMOS晶体管的源极和第三NMOS晶体管的源极;所述第三PMOS晶体管的漏极接地;所述第三NMOS晶体管的漏极连接至电压源。
在本实用新型上述电路中,所述第一PMOS晶体管、第二PMOS晶体管和第三PMOS晶体管为参数完全相同的PMOS晶体管。
在本实用新型上述电路中,所述第一NMOS晶体管、第二NMOS晶体管和第三NMOS晶体管为参数完全相同的NMOS晶体管。
综上所述,由于采用了上述技术方案,本实用新型的有益效果是:电路结构简单,节省成本,自身功耗低。
附图说明
图1是本实用新型欠压锁存电路的电路原理图。
具体实施方式
下面结合附图,对本实用新型作详细的说明。
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。
如图1所示,是本实用新型欠压锁存电路的电路原理图。
本实用新型的一种欠压锁存电路,该电路包括欠压锁存电压信号输出端Vout,还包括三只PNP晶体管P1~P3、三只NPN晶体管N1~N3、肖特基势垒二极管Z1以及由电容C1和电阻R1并联构成的RC电路。
下面结合附图1对本实用新型上述的各电子元器件间的连接关系做详细说明:所述肖特基势垒二极管Z1的阳极接地GND,阴极连接至第一PMOS晶体管P1的栅极、第二PMOS晶体管P2的栅极、第一NMOS晶体管N1的栅极和第二NMOS晶体管N2的栅极,该阴极还通过RC电路连接至电压源VDD;欠压锁存电压信号输出端Vout连接至第二PMOS晶体管P2的漏极、第一NMOS晶体管N1的漏极、第三POS晶体管P3的栅极和第三NMOS晶体管N3的栅极;所述第一PMOS晶体管P1的源极连接至电压源VDD,漏极连接至第二PMOS晶体管P2的源极和第三PMOS晶体管P3的源极;所述第二NMOS晶体管N2的源极接地GND,漏极连接至第一NMOS晶体管N1的源极和第三NMOS晶体管N3的源极;所述第三PMOS晶体管P3的漏极接地GND;所述第三NMOS晶体管N3的漏极连接至电压源VDD。
在本实用新型上述电路中,所述第一PMOS晶体管P1、第二PMOS晶体管P2和第三PMOS晶体管P3为参数完全相同的PMOS晶体管。
在本实用新型上述电路中,所述第一NMOS晶体管N1、第二NMOS晶体管N2和第三NMOS晶体管N3为参数完全相同的NMOS晶体管。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已,并不用以限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。
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