[实用新型]一种测试机控制箱

说明书

技术领域

本实用新型涉及测试机，尤其涉及一种测试机控制箱。

背景技术

现有的用于测试PCBA功能的测试机控制箱，具有各种测试电路和数据处理装置。需要完成多项测试功能，导致电路连接结构比较复杂，而且，电路的信号隔离不好，各电路模块容易受到外部信号的影响，抗干扰能力弱。

发明内容

本实用新型提供一种电路结构简单、隔离性强的测试机控制箱。

一种测试机控制箱，包括光耦群、继电器群、测试电路、用于处理并将测试数据传输到外部计算机的数据处理装置，光耦群的控制端与外部计算机的I/O控制卡的输出端连接，光耦群的输出端与继电器群的控制端连接，继电器群的反馈信号端与外部计算机的I/O控制卡的输入端连接，继电器群的测试端与测试电路连接，继电器群的信号输出端与数据处理装置连接。

其中，还包括LED群，LED群的输入端与光耦群的驱动输出端连接。

其中，LED群包括80个LED。

其中，继电器群包括用于输入测试机外部信号的测试机外部信号输入端口、用于输入测试用电源的测试电源输入端口、用于输入待测信号的待测信号输入端口。

其中，测试电路包括短路测试电路。

其中，测试电路包括欠压保护测试电路。

其中，测试电路包括过压保护测试电路。

其中，测试电路包括压床电路。

其中，数据处理装置包括数据采集卡。

其中，数据处理装置包括虚拟示波器。

本实用新型有益效果：本实用新型包括光耦群、继电器群、测试电路、用于处理并将测试数据传输到外部计算机的数据处理装置，光耦群的控制端与外部计算机的I/O控制卡的输出端连接，光耦群的输出端与继电器群的控制端连接，继电器群的反馈信号端与外部计算机的I/O控制卡的输入端连接，继电器群的测试端与测试电路连接，继电器群的信号输出端与数据处理装置连接。本实用新型通过光耦群和继电器群组合进行信号的切换，各电路模块与外部信号相互隔离，隔离性强，抗干扰能力强，实现自身通道的复用，电路结构简单。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图。

具体实施方式

参见图1，以下结合附图对本实用新型进行详细的描述。

一种测试机控制箱，包括光耦群11、继电器群13、测试电路、用于处理并将测试数据传输到外部计算机的数据处理装置，光耦群11的控制端与外部计算机的I/O控制卡的输出端连接，光耦群11的输出端与继电器群的控制端连接，继电器群13的反馈信号端与外部计算机的I/O控制卡的输入端连接，继电器群13的测试端与测试电路连接，继电器群13的信号输出端与数据处理装置连接。I/O控制卡用于通过不同的通道输出控制信号，将控制信号发送到光耦群11，光耦群11控制继电器群13，继电器群11控制对应继电器的通断，从而实现通道切换。当然，测试机控制箱还可以包括箱体、箱盖等常用部件。

本实施例中，还包括LED群10，LED群10的输入端与光耦群11的驱动输出端连接。LED群10包括80个LED。本实施例的I/O控制卡包括96路通道，16路为输入信号通道，80路为输出信号通道。80路输出信号通道可控制80个光耦，每个光耦对应1个LED，当某路输出信号通道发送信号时，对应的LED闪亮，故可以从LED状态查看当前的测试状态。

本实施例中，继电器群13包括用于输入测试机外部信号的测试机外部信号输入端口、用于输入测试用电源的测试电源输入端口、用于输入待测信号的待测信号输入端口。测试机外部信号包括启动或停止压床运动的控制信号，通过I/O控制卡对通道的切换，该控制信号可以切换到压床电路18中，从而实现相应的控制功能。测试用电源为给PCBA供电的电源，在某些项目测试中需要给PCBA供电，通过I/O控制卡对通道的切换，继电器群13可将该电源接通PCBA。输入待测信号包括PCBA输出的各种测试信号，通过I/O控制卡对通道的切换，可将该信号传输到相应的电路模块。

本实施例中，测试电路包括短路测试电路15，欠压保护测试电路16，过压保护测试电路17。测试电路还包括压床电路18。短路测试、欠压保护测试、过压保护测试是PCBA的常见测试项目，在此不再赘述。

本实施例中，数据处理装置包括数据采集卡12、虚拟示波器14。数据采集卡12、虚拟示波器14均连接外部计算机。数据采集卡12用于采集继电器群13输出的信号，虚拟示波器14用于将信号转成图像输出。