[实用新型]一种玻璃基板辅助测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及玻璃基板制造领域，尤其涉及一种玻璃基板辅助测试装置。

背景技术

随着电子技术的发展，电子产品市场竞争愈演愈烈，保证电子产品的质量成为占领市场的关键因素。通常，为保证在OLED（Organic Light-Emitting Diode，称为有机发光二极管）等其他电子产品中所用的大片ITO（Indium Tin Oxides，称为氧化铟锡）玻璃基板的质量，需要在对ITO玻璃基板来料检验时，将ITO玻璃基板放置于测试台上，检测该ITO玻璃基板表面方块电阻、尺寸及接触角等。但是，由于ITO玻璃基板在光滑的测试台上很容易移动，在检测过程中，经过多次调整后才可以完成测试，且测试结果精度不高，测试时间长。

实用新型内容

本实用新型提供的一种玻璃基板辅助测试装置，能够方便玻璃基板检测，提高检测准确度。

为了实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案：

一种玻璃基板辅助测试装置，包括：由防滑材料制成的直段和由防滑材料制成的L型结构的弯折段；所述弯折段的一边设置有卡槽，所述直段通过所述卡槽与所述弯折段连接，并通过固定夹固定后形成U型结构。

作为本实用新型的优选方案，所述弯折段是折叠式的。

作为本实用新型的优选方案，所述弯折段的一条边上设置有与另一条边相匹配的凹槽，以使所述弯折段在折叠时，另一条边放置在所述凹槽内。

本实用新型提供的玻璃基板辅助测试装置，通过在测试台上设置能够固定玻璃基板的结构，将待检测的玻璃基板固定在测试台上，避免了在检测过程中玻璃基板的移动，从而能够方便检测，提高检测准确度。

附图说明

图1是本实用新型提供的玻璃基板辅助测试装置。

附图标记：玻璃基板辅助测试装置-10，直段-101，弯折段-102，卡槽-1021，玻璃基板-103，检测台-104。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型做进一步详细描述。

本实用新型提供的玻璃基板辅助测试装置10，如图1所示，包括：由防滑材料制成的直段101和由防滑材料制成的L型结构的弯折段102；所述弯折段102的一边设置有卡槽1021，所述直段101通过所述卡槽1021与所述弯折段102连接，并通过固定夹固定后形成U型结构。

具体的，在进行玻璃基板检测时，将该玻璃基板辅助测试装置10，放置在检测台104合适的位置，并将玻璃基板103放置在弯折段102所在的区域，调整弯折段102与玻璃基板103的位置，以使弯折段102与直段101形成的U型结构后，可以固定该玻璃基板103，再将直段101通过卡槽1021与弯折段102连接，并用固定夹固定直段101与弯折段102。

本实用新型提供的玻璃基板辅助测试装置，通过在测试台上设置能够固定玻璃基板的结构，将待检测的玻璃基板固定在测试台上，避免了在检测过程中玻璃基板的移动，从而能够方便检测，提高检测准确度。

优选的，所述弯折段102是折叠式的，这样，在使用完成后，可以将该直段101和弯折段102拆开，且将弯折段102折叠后整理，整个操作简单易实现。

优选的，所述弯折段102的一条边上设置有与另一条边相匹配的凹槽，以使所述弯折段102在折叠时，另一条边放置在所述凹槽内，这样，不但操作方便，还节省了放置空间。

以上所述仅为本实用新型的一种实施方式，不是全部或唯一的实施方式，本领域普通技术人员通过阅读本实用新型说明书而对本实用新型技术方案采取的任何等效的变换，均为本实用新型的权利要求所涵盖。