[实用新型]晶体应力检测仪有效
| 申请号： | 201220422701.0 | 申请日： | 2012-08-23 |
| 公开（公告）号： | CN202836841U | 公开（公告）日： | 2013-03-27 |
| 发明（设计）人： | 万文;万黎明 | 申请（专利权）人： | 巢湖市环宇光学技术有限公司 |
| 主分类号： | G01L1/24 | 分类号： | G01L1/24 |
| 代理公司： | 安徽汇朴律师事务所 34116 | 代理人： | 胡敏 |
| 地址： | 238000 *** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 晶体 应力 检测 | ||
【权利要求书】：
1.一种晶体应力检测仪，其特征在于，包括检测台、检测固定架、偏光片固定架、光源输出端、沙磨玻璃片，所述检测台设有贯穿的纵向孔，所述纵向孔底部正下方设置光源输出端，所述纵向孔的顶端设置所述沙磨玻璃片，所述纵向孔上方设有固定的检测固定架，所述检测固定架上端设置可移动的偏光片固定架。
2.根据权利要求1所述的晶体应力检测仪，其特征在于，所述检测仪还包括工作壁，所述工作壁设有两段，上段可旋转，下段不可旋转，所述工作壁固定于所述检测台顶面，所述检测固定架通过连接杆固定在所述工作壁的下段，所述偏光片固定架通过连接杆固定在所述工作壁的上段。
3.根据权利要求1所述的晶体应力检测仪，其特征在于，所述检测仪还包括基架，所述基架设置在所述检测台底部，所述光源输出端设置在所述基架内。
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