[实用新型]抗辐射SRAM时序控制电路有效
| 申请号: | 201220413248.7 | 申请日: | 2012-08-20 |
| 公开(公告)号: | CN202855312U | 公开(公告)日: | 2013-04-03 |
| 发明(设计)人: | 魏晓敏;高德远;魏廷存;陈楠;高武;郑然;王佳;胡永才 | 申请(专利权)人: | 西北工业大学 |
| 主分类号: | G11C11/413 | 分类号: | G11C11/413 |
| 代理公司: | 西北工业大学专利中心 61204 | 代理人: | 王鲜凯 |
| 地址: | 710072 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 辐射 sram 时序 控制电路 | ||
1.一种抗辐射SRAM时序控制电路,包括存储器阵列,其特征在于还包括一行和一列跟踪存储单元,一行跟踪存储单元连接跟踪字线LWL_TRACK,一列跟踪存储单元连接跟踪位线BL_TRACK和BLB_TRACK;任意一行字线有效时,跟踪字线LWL_TRACK同时有效;当任意选中的存储单元进行读写操作时,跟踪列上对应的存储单元也会同时执行读写操作;在向存储阵列写数据时,跟踪列上固定写入数据0,否则需要同时检测0和1两种状态;当跟踪列输出数据DO_TRACK为0时,认为数据已写至位线,如果此时跟踪字线LWL_TRACK为1,则数据写入存储单元;在从存储阵列读数时,跟踪列输出DO_TRACK为0时,则认为实际要读出的存储单元的数据已经稳定并可以进行锁存操作。
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