[实用新型]平板装置有效

专利信息
申请号: 201220390052.0 申请日: 2011-09-16
公开(公告)号: CN203276086U 公开(公告)日: 2013-11-06
发明(设计)人: 小M·A·克里特拉;V·M·杜金尼;M·M-C·恩格;R·K·黄;C·摩尔;C·T·姆兰斯;A·劳德;M·D·罗尔巴克;D·J·科斯特;C·J·斯特林格;F·W·欧;J·艾;J·P·艾夫;E·M·基比提;J·P·特纳斯;S·D·卢布纳;S·S·科宾 申请(专利权)人: 苹果公司
主分类号: G06F1/16 分类号: G06F1/16;G01D5/12
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 陈新
地址: 美国加*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 平板 装置
【权利要求书】:

1.一种平板装置,其特征在于包括: 

处理器; 

被配置为检测外部磁场的罗盘;以及 

被配置为确定所述平板装置的空间定向的加速度计和陀螺仪; 

其中当盖枢转地附接到所述平板装置时,利用由所述罗盘检测到的从布置在所述盖中的磁性元件发出的磁通密度以及由所述加速度计和陀螺仪确定的所述平板装置的空间定向,来提供对所述盖绕枢转线的运动的估计。 

2.根据权利要求1所述的平板装置,其特征在于,所述盖还包括第一磁附接结构。 

3.根据权利要求2所述的平板装置,其特征在于,所述平板装置还包括第二磁附接结构,所述第一磁附接结构和所述第二磁附接结构被配置为产生相互的磁附接力,该磁附接力的强度足够大以枢转地附接所述平板装置和所述盖。 

4.根据权利要求3所述的平板装置,其特征在于,所述罗盘检测由第二磁附接结构产生的磁偏移值。 

5.根据权利要求4所述的平板装置,其特征在于,当所述处理器接收到关于所述罗盘已经检测到所述磁偏移值的指示时,所述盖和所述平板装置被确定为彼此磁性附接。 

6.根据权利要求1所述的平板装置,其特征在于,当所述盖完全闭合时,所述盖具有0弧度的枢转角,并且所述磁传感器与所述磁体基本共面并相距第一距离Rclose,并且检测来自所述磁体的第一磁场值,当所述盖相对于所述平板装置完全打开时,所述枢转角为π弧度,并且 所述磁传感器与所述磁体基本共面并相距第二距离Ropen,并且检测来自所述磁体的第二磁场值,其中第二距离Ropen大于第一距离Rclose。 

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