[实用新型]CAP/DF测试装置有效

专利信息
申请号: 201220382630.6 申请日: 2012-08-03
公开(公告)号: CN202794343U 公开(公告)日: 2013-03-13
发明(设计)人: 赵德星;董加银;赵光涛;唐田;沈江;赵光满 申请(专利权)人: 昆山微容电子企业有限公司
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26
代理公司: 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 代理人: 董建林
地址: 215300 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: cap df 测试 装置
【权利要求书】:

1.CAP/DF测试装置,其特征在于:包括支架、载体纸带导轨(3)、相对载体纸带导轨(3)的高度调节装置、探针座(1)、两支韧性探针(2)和测试电路,所述载体纸带导轨(3)和高度调节装置的固定端与支架固定安装,探针座(1)与高度调节装置的调节端连接安装,两支韧性探针(2)的一端与探针座(1)固定、并分别与测试电路的正极和负极连接,两支韧性探针(2)的另一端为自由端,所述两支韧性探针(2)的自由端压在载体纸带导轨(3)上、并向载体纸带导轨(3)的导向方向倾斜。

2.根据权利要求1所述的CAP/DF测试装置,其特征在于:还包括转动调节装置,所述转动调节装置的固定端与高度调节装置的调节端固定安装,所述探针座(1)与转动调节装置的调节端固定安装。

3.根据权利要求1所述的CAP/DF测试装置,其特征在于:所述高度调节装置为丝杠螺母机构,所述丝杠螺母机构包括丝杠结构(5)和螺母结构(6),所述丝杠结构(5)与支架固定,螺母结构(6)与探针座(1)固定。

4.根据权利要求3所述的CAP/DF测试装置,其特征在于:所述螺母结构(6)为与探针座(1)固定安装的独立螺母件,或者为设置在探针座(1)上螺纹孔。 

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于昆山微容电子企业有限公司,未经昆山微容电子企业有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201220382630.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top