[实用新型]一种光轴综合校正仪

说明书

技术领域

本实用新型是一种用于瞄准器具的光轴检测与校正的光轴综合校正仪。

背景技术

在现有的技术中，检校不同瞄准器具光轴一致性的方法是采用多种大型设备进行分段式多级校正，即在一套设备上完成一种光轴校正后，才能依次转入不同设备完成其它对应的光轴校正，难以消除重复定位误差，校正周期长，同时现有技术使用的检校设备，不仅操作复杂，而且体积普遍偏大，对使用环境要求较高，检测成本高。

发明内容

本实用新型的发明目的，就是要提供一种集成度高，检测精度高，体积小巧，节能环保的光轴综合校正仪，可同时满足不同性能的瞄准器具的校正。本实用新型的技术方案是：一种光轴综合校正仪，由综合集成平行光管（1）、自准直平行光管（2）、支架组件（3）组成；其特征在于综合集成平行光管（1）由主镜（4）、次镜（5）、金属发热丝（6）、滤光镜（7）、聚光镜组（8）、发光管（9）和抽风机（10）组成。使用前，综合光轴校正仪中的综合集成平行光管（1）与自准直平行光管（2）的光轴已经校正重合，使用时，将被测系统的基准平面对准自准直平行光管（2），通过目视观察自准直平行光管（2）经过基准平面返回来的自准像，机械调整被测系统或仪器的位置关系，使自准直平行光管（2）内的自准像重合后，即完成设备与仪器的对准；将不同的被测瞄具分别安装在对应的安装基准面上，通过被测瞄具观察，瞄具的十字像经过主镜（4）与次镜（5）成像与无穷远处的金属发热丝（6），比较瞄具十字中心与金属发热丝（6）的中心偏差，根据偏差量调整瞄具分划像，并使两十字分划像重合后，即完成被测系统不同瞄具的光轴检校。本实用新型的有益效果是：解决了多项检测功能集于一体的难题，可以同时完成白光、微光、红外、电视等检校光电跟踪与识别系统内的不同瞄准器具与安装基准一致性的光轴检测与校正，具备了在线与适时检校的能力，其操作方便，直观快捷，检测精度高。

附图说明

  附图1为本实用新型的示意图。  

附图2为综合集成平行光管（1）的斜剖面示意图。

  附图3为综合集成平行光管（1）的正剖面示意图。

具体实施方式

  图1中，一种光轴综合校正仪，由综合集成平行光管（1）、自准直平行光管（2）、支架组件（3）组成。

  图2和图3中，在综合集成平行光管（1）内固定着主镜（4）、次镜（5）、金属发热丝（6）、滤光镜（7）、聚光镜组（8）、发光管（9）和抽风机（10）。主镜（4）、次镜（5）、金属发热丝（6）、滤光镜（7）、聚光镜组（8）的中心点在同一直线上。主镜（4）与次镜（5）组合成为卡塞格林反射式系统，该系统可以消除不同被测光波段的色差，综合分划板采用金属发热丝（6）加均匀照明系统（7）、（8）、（9），可同时满足了白光、微光、红外和电视等瞄具的检校。在检校红外瞄具时，首先给金属丝通电，使其发热，同时开启抽风机（10），抽去金属发热丝（10）周围的热气流，防止金属发热丝（10）因长时间发热使周围气流升温，影响红外成像，保证红外成像能持续清晰分辨后，即可完成红外瞄具的检校，其中金属发热丝（6）的粗细，可根据被测系统的跟踪精度指标进行选择，以提高检测精度。在检校微光瞄具时，打开发光管（9），照明光线经过聚光镜组（8）、滤光镜（7）形成均匀光源，将发光管（9）亮度调节至与被测微光瞄具匹配的亮度值，此时金属发热丝模拟光学十字分划，完成微光瞄具的检校；白光瞄具与电视瞄具的检校方法与微光瞄具相似；可以一次安装同时完成各瞄具光轴与传感器的光轴检校工作。被检设备与综合光轴校正仪对准后，将不同的被测瞄具分别安装在对应的安装基准面上，通过被测瞄具观察，瞄具的十字像经过主镜（4）与次镜（5）成像与无穷远处的金属发热丝（6）处，比较瞄具十字中心与金属发热丝（10）的中心偏差，根据偏差量调整瞄具分划像，并使两十字分划像重合后，即完成被测系统不同瞄具的光轴检校。