[实用新型]用于粉末样品检测的XRF仪器的机芯

说明书

技术领域

本实用新型涉及XRF仪器的技术领域，特别是涉及一种用于粉末样品检测的XRF仪器的机芯。 

背景技术

XRF又叫X射线荧光光谱分析，在工程、制造业等领域应用广泛，一台典型的X射线荧光(XRF)仪器由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线)，激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。X射线照在物质上而产生的次级X射线被称为X射线荧光。利用X射线荧光原理，理论上可以测量元素周期表中的每一种元素。 

现有的XRF仪器中样品托与真空腔体的结构设计不够合理，造成操作不便，有待改进。 

实用新型内容

本实用新型为解决上述问题，提出一种用于粉末样品检测的XRF仪器的机芯。 

本实用新型的技术方案是：一种用于粉末样品检测的XRF仪器的机芯，包括壳体、样品托、压紧套，所述壳体内部设有水平方向的真空腔，样品托插入在真空腔内，所述的壳体上还设有与真空腔连通的X光孔、探测器安装孔、排气孔，所述的真空腔为横截面为长方形的空腔，该空腔一端通至壳体的侧面，在此侧面以真空腔中轴为圆心设有一个连接环；所述的样品托前部为横截面为 长方形的条形托体，托体横截面形状与真空腔的横截面形状匹配，样品托尾部为一圆盘，该圆盘大小与连接环的内圆匹配；在圆盘的外面通过螺钉和轴承安装有一可转动压杆，所述压紧套通过螺纹结构套装在连接环外，压紧套上设有压沿扣压在可转动压杆的两端。 

所述的压紧套的压沿上设有两个对应的缺口，该缺口位于压紧套的直径方向的两端，缺口的宽度与可转动压杆的宽度匹配。 

所述的X光孔的轴线、探测器安装孔的轴线均位于与真空腔的底面垂直的竖向平面内。 

所述的样品托的前部设有样品安装孔，样品安装孔内设有升降调整垫和样品环，所述的样品安装孔内表面与升降调整垫的外表面之间通过螺纹连续。 

所述的样品托的圆盘的内表面设有环形卡槽，在卡槽内部设有密封条。 

本实用新型的有益效果 

该实用新型用于粉末样品检测的XRF仪器的机芯，结构简单，制作难度降低，样品托安装时采用环形套进行固定，操作快捷、方便。 

附图说明

图1为用于粉末样品检测的XRF仪器的机芯的主视结构示意图； 

图2为图1的A-A剖视结构示意图； 

图3为图1的立体结构示意图； 

图4为图1中壳体的主视图； 

图5为图4的后视图； 

图6为图4的立体结构示意图； 

图7为图4的A-A剖面结构示意图； 

图8为图1中的样品托组件的主视图； 

图9为图8的A-A剖面示意图； 

图10为图8的B-B剖面示意图； 

图11为图8的立体结构示意图； 

图中1.壳体、2.样品托、3.环形套、4.轴承、5.螺钉、6.可转动压杆、7.升降调整垫、8.样品环、9.密封圈、其中1-1.真空腔、1-2.探测器安装孔、1-3.X光孔、1-4.连接环、1-5.排气孔、2-1.样品托托的圆盘、2-2.样品托的托体、3-1.环形套的压沿、3-2.环形套压沿上的缺口.。 

具体实施方式

实施例：参见图1，图中一种用于粉末样品检测的XRF仪器的机芯，包括壳体、样品托、压紧套，所述壳体内部设有水平方向的真空腔，样品托插入在真空腔内，所述的壳体上还设有与真空腔连通的X光孔、探测器安装孔、排气孔，所述的真空腔为横截面为长方形的空腔，该空腔一端通至壳体的侧面，在此侧面以真空腔中轴为圆心设有一个连接环；所述的样品托前部为横截面为长方形的条形托体，托体横截面形状与真空腔的横截面形状匹配，样品托尾部为一圆盘，该圆盘大小与连接环的内圆匹配；在圆盘的外面通过螺钉和轴承安装有一可转动压杆，所述压紧套通过螺纹结构套装在连接环外，压紧套上设有压沿扣压在可转动压杆的两端。所述的压紧套的压沿上设有两个对应的缺口，该缺口位于压紧套的直径方向的两端，缺口的宽度与可转动压杆的宽度匹配。所述的X光孔的轴线、探测器安装孔的轴线均位于与真空腔的底面垂直的竖向平面内。所述的样品托的前部设有样品安装孔，样品安装孔内设有升降调整垫和样品环，所述的样品安装孔内表面与升降调整垫的外表面之间通过螺纹连续。所述的样品托的圆盘的内表面设有环形卡槽，在卡槽内部设有密封条。