[实用新型]探针及探针装置

说明书

技术领域

 本实用新型是有关于一种探针，特别是指一种能缩短针距的探针及探针装置。

背景技术

参阅图1，传统的测试用探针1是可置换地设置于一测试座100的一探针孔200中，用以电连接一待测接点300及一收讯接点400。

该测试用探针1是以导电材料制成，并包括一穿设于该探针孔200的壳体件11、一上接触件12、一下接触件13，及一弹性元件14。

该壳体件11具有一中空的底壁111、一由该底壁111的外周缘向上延伸的围绕壁112、一由该围绕壁112的顶端径向向内延伸的中空的顶壁113，及一由该底壁111与围绕壁112及顶壁113所界定的穿孔114。

该上接触件12是可上下移动地设置于该壳体件11的穿孔114上半部，并具有一可移动地抵靠该顶壁113的底面的抵靠部121、一由该抵靠部121向下延伸的连接部122，及一由该抵靠部121向上延伸并穿过该顶壁113而可接触该待测接点300的接触部123。

该下接触件13是可上下移动地设置于该壳体件11的穿孔114下半部，并具有一可移动地抵靠该底壁111的顶面的抵靠部131、一由该抵靠部131向上延伸的连接部132，及一由该抵靠部132向下延伸并穿过该底壁111而可接触该收讯接点400的接触部133。

该弹性元件14是压缩弹簧，是可压缩形变地设置于该壳体件11的穿孔114内，该弹性元件14二端分别连接该上接触件12的连接部122及该下接触件13的连接部132，并用于根据该待测接点300及该收讯接点400的间距缓冲调变该上、下接触件12、13的距离。

参阅图1、2，实际使用时，该测试座100上是设置有多数个测试用探针1，相邻两测试用探针1中心轴线之间相距一个长度L，但是随着集成电路产业的发达与工艺进步的情况，在同一单位面积上所能形成的待测接点300或收讯接点400的数量亦进一步提高。换言之，该测试座100上的探针1数量(PIN COUNT)也会被要求进一步提高，而增加探针1数量的手段就是将测试用探针1的结构微小化，在单位面积中增加设置的数量。但是，探针1的微小化终有其极限，也愈来愈无法满足目前日益增加待测接点300或收讯接点400产品的集成电路封装元件。

再者，现在有部分集成电路产品要求测试时必须在同一个待测接点300或收讯接点400上(例如Kelvin Test)，同时以两根测试用探针1作连接接触，在探针1的结构微小化有限的前提下，现有的测试用探针1难以满足此一要求，确实有其改善的必要。

实用新型内容

因此，本实用新型的主要目的，在于提供一种采偏心设计而能缩短相邻针距的探针及增加探针设置数量，进而能适用于更多不同接脚数变化的封装元件的探针装置。

为达到上述目的，本实用新型提供一种探针，其材质为导电材质，其包括有：一座体，定义有一中心轴线；一第一接触部，由该座体顶面朝远离该座体方向垂直延伸，该第一接触部定义有一中心线，且该第一接触部的中心线不与该中心轴线重叠；一第二接触部，由该座体底面朝远离该座体方向垂直延伸。

所述第二接触部的中心线与所述中心轴线重叠。

另一方面，本实用新型提供一种探针装置，是设置于一测试座的一探针孔中用以电连接一待测接点及一收讯接点，该探针装置包括：一壳体，是穿设于该探针孔中，该壳体内部形成有一容置空间，且该壳体的二相反端分别设有能使该容置空间与外界相通的通孔；二探针，各探针均具有一座体、一由该座体一表面朝远离该座体方向垂直延伸的第一接触部，及一由该座体另一相反表面朝远离该座体方向垂直延伸的第二接触部，至少一个探针的第一接触部是呈偏心设置，各该探针是能上下移动地分别设置于该壳体的容置空间上半部与下半部，位于该容置空间上半部的该探针的第一接触部并通过相对应的该通孔而凸伸出该测试座顶面而接触该待测接点，位于该容置空间下半部的该探针的第一接触部则是通过相对应的该通孔而凸伸出该测试座底面并接触该收讯接点；及一弹性元件，能压缩形变地设置于该壳体的容置空间内，且二端分别连接各该探针。

所述座体定义有一中心轴线，所述第二接触部的中心线与该中心轴线重叠，而该第一接触部的中心线不与该中心轴线重叠。

所述壳体具有一顶壁、一由该顶壁外周缘向下延伸的围绕壁，及一由该围绕壁底端向下并向内收合的收合壁，所述容置空间是由该顶壁、该围绕壁及该收合壁共同界定而成，该顶壁及该收合壁是分别与该待测接点、该收讯接点相对应，各该通孔是分别由该顶壁及该收合壁界定而成。