[实用新型]测试设备自动校准仪及校准系统有效

专利信息
申请号: 201220306748.0 申请日: 2012-06-27
公开(公告)号: CN202794491U 公开(公告)日: 2013-03-13
发明(设计)人: 陈强;叶川;唐亮 申请(专利权)人: 北京泛华恒兴科技有限公司
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 北京市惠诚律师事务所 11353 代理人: 雷志刚;潘士霖
地址: 100192 北京市海淀区*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 测试 设备 自动 校准 系统
【权利要求书】:

1.一种测试设备自动校准仪,其特征在于,所述测试设备自动校准仪包括: 

控制器以及与所述控制器相连的选通模块; 

所述控制器用于发送选通命令,并控制外部的待校准测试设备相对外部相应的标准测试设备进行校准; 

所述选通模块用于根据所述选通命令,自动选通所述控制器与所述相应的标准测试设备和所述待校准测试设备之间特定测试通道的电连接。 

2.根据权利要求1所述的测试设备自动校准仪,其特征在于,所述选通模块为通用PXI模块化仪器平台。 

3.根据权利要求2所述的测试设备自动校准仪,其特征在于,所述通用PXI模块化仪器平台包括:至少一个PXI功能模块板卡,每个所述PXI功能模块板卡用于选通连接一类所述相应的标准测试设备和一类所述待校准测试设备与所述控制器的电连接。 

4.根据权利要求2所述的测试设备自动校准仪,其特征在于,所述控制器为工控机,或为与所述通用PXI模块化仪器平台适配的PXI控制板卡。 

5.根据权利要求1-4任一所述的测试设备自动校准仪,其特征在于,所述控制器通过MXI总线与所述选通模块相连。 

6.一种测试设备自动校准系统,其特征在于,包括如权利要求1—5任一所述的测试设备自动校准仪,还包括待校准测试设备和相应的标准测试设备,所述待校准测试设备和相应的标准测试设备均与所述选通模 块相连。 

7.根据权利要求6所述的测试设备自动校准系统,其特征在于,所述待校准测试设备为至少一台待校准信号发生器,与所述待校准信号发生器相应的标准测试设备为至少一台标准信号发生器; 

和/或, 

所述待校准测试设备为至少一台待校准示波器,与所述待校准示波器相应的标准测试设备为至少一台标准示波器。 

8.根据权利要求7所述的测试设备自动校准系统,其特征在于,所述标准信号发生器为微波频率计、测量接收机、频谱分析仪或音频分析仪。 

9.根据权利要求7所述的测试设备自动校准系统,其特征在于,所述测试设备自动校准系统还包括通用计数器,所述通用计数器与所述待校准示波器以及所述标准示波器相连。 

10.根据权利要求7所述的测试设备自动校准系统,其特征在于,所述待校准信号发生器和标准信号发生器通过GPIB总线与选通模块相连。 

11.根据权利要求7所述的测试设备自动校准系统,其特征在于,所述待校准示波器和标准示波器通过GPIB总线与选通模块相连。 

12.根据权利要求6所述的测试设备自动校准系统,其特征在于,所述自动校准仪还包括用于输出校准结果报告的打印机,所述打印机与所述控制器相连。 

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