[实用新型]蓝牙耳机Don&Doff功能测试电路及测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及蓝牙耳机技术领域，更为具体地，涉及一种蓝牙耳机Don&Doff功能测试电路及测试装置。

背景技术

蓝牙是一种低成本低功耗的短距离无线通信技术。近年来随着蓝牙产品和无线技术应用的普及，蓝牙耳机的成为目前在日常生活中应用最广的蓝牙技术，通过蓝牙耳机，手机用户可以实现无线免提功能，而不必像现在这样从头部垂下一根线到手机上。

目前蓝牙耳机Don/Doff功能（即耳机自动检测是否戴在耳朵上，戴上时进入待机状态，摘下后进入低功耗状态）越来越普遍，可以延长耳机工作时间，简化接听等功能。

Don/Doff新功能的引入，使得蓝牙耳机在出厂前需要增加对此功能的测试，但是现有测试方法采用金属工装等方法，将耳机靠近工装时判断耳机是否有反应来确认Don/Doff功能是否可用，但对于此功能的灵敏度、一致性等问题却无法衡量。这种只能简单测试Don/Doff功能的有无、无法保证此功能的一致性的测试方法远远不能满足生产厂商对蓝牙耳机Don/Doff功能测试的需求。

实用新型内容

鉴于上述问题，本实用新型的目的是提供一种蓝牙耳机Don&Doff功能测试电路，通过特殊设计的电极，模拟蓝牙耳机戴在耳朵上时人耳及脸部皮肤对蓝牙耳机的影响，从而确定测试limit来确保Don&Doff功能的出货一致性。

为了实现上述目的，本实用新型提供的蓝牙耳机Don&Doff功能测试电路包括至少一个测试电极和与所述测试电极相连接的同向电压跟随电路；所述同向电压跟随电路包括变容二极管和激励信号发生器；所述变容二极管的一端与所述测试电极相连，另一端与激励信号发生器相连。

此外，优选的结构是，所述测试电极与所述蓝牙耳机的电容传感器相配合使用，当所述蓝牙耳机为双电容传感器的Don/Doff蓝牙耳机时，所述测试电极为两个，包括一个“U”字形电极和一个“8”字形电极，所述同向电压跟随电路为两路；当所述蓝牙耳机为单电容传感器蓝牙耳机时，所述测试电极为一个，所述同向电压跟随电路为一路。

此外，优选的结构是，所述测试电极由PCB铜皮来实现，其中的“8”字形电极用来模拟人脸部皮肤，“U”字形电极用来模拟人耳。

另一方面，本实用新型还提供一种包括测试工装和前述蓝牙耳机Don&Doff功能测试电路的蓝牙耳机Don&Doff功能测试装置，其中，所述测试工装用于固定待测试蓝牙耳机，所述蓝牙耳机功能测试电路的测试电极放置在通过所述测试工装上靠近所述蓝牙耳机的电容传感器的位置。

采用本实用新型提供的蓝牙耳机Don&Doff功能测试电路及测试装置后，配合相应测试软件，即可确定每只耳机感应曲线，根据批量测试数据制定标样曲线及limit，量产耳机测试曲线介于limit曲线之间，即认为满足一致性要求。测试方法直观简便，便于实施。

附图说明

通过参考以下结合附图的说明及权利要求书的内容，并且随着对本实用新型的更全面理解，本实用新型的其它目的及结果将更加明白及易于理解。

在附图中：

图1为根据本实用新型实施例的测试电路示意图；

图2为根据本实用新型实施例的“U”字形电极示意图；

图3为根据本实用新型实施例的“8”字形电极示意图。

在所有附图中相同的标号指示相似或相应的特征或功能。

具体实施方式

以下将结合附图对本实用新型的具体实施例进行详细描述。

本实用新型采用的技术方案是，通过特殊设计的电极并配合变容二极管模拟人耳及脸部皮肤，通过测试电路对电极进行循环充放电来模拟耳机戴上与摘下的状态。本实用新型提供的测试电路包括至少一个测试电极和与测试电极相连接的同向电压跟随电路，同向电压跟随电路主要包括变容二极管和激励信号发生器，其中，变容二极管的一端与所述测试电极相连，另一端与激励信号发生器相连。

图1为根据本实用新型实施例的测试电路示意图。图1所示的测试电路为针对双电容传感器蓝牙耳机设计的具有两个测试电极和两路同向电压跟随电路的测试电路，以测试双电容传感器蓝牙耳机中的两个电容传感器的感应曲线。

其中，在本实用新型的一个具体实施方式中，两个测试电极为如图2和图3所示的具有特殊形状设计的测试电极。