[实用新型]集成电路翻面装置有效

专利信息
申请号: 201220250729.0 申请日: 2012-05-28
公开(公告)号: CN202687447U 公开(公告)日: 2013-01-23
发明(设计)人: 叶键波;韩笑;钟锋浩;刘海瑞 申请(专利权)人: 杭州长川科技有限公司
主分类号: B65G47/248 分类号: B65G47/248;B65G43/00;G01R31/28
代理公司: 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 代理人: 尉伟敏
地址: 310052 浙江省杭州市滨江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 集成电路 装置
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及集成电路测试设备领域,尤其是一种集成电路翻面效率高且利于组织集成电路测试流水作业的集成电路翻面装置。

背景技术

集成电路需要进行多项测试,有的测试需要从集成电路的顶面进行测试,有的测试需要从集成电路的底面进行测试;当一道工序测试完成需要翻面进入另一道工序测试时,由于集成电路多为批量生产,翻面的工作量较大;用人工进行翻面效率低且不利于组织集成电路测试流水作业;为了克服目前用人工进行集成电路翻面效率低且不利于组织集成电路测试流水作业的不足,因此,设计一种集成电路翻面效率高且利于组织集成电路测试流水作业的集成电路翻面装置,成为亟待解决的问题。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了克服目前用人工进行集成电路翻面效率低且不利于组织集成电路测试的流水作业的不足,提供一种集成电路翻面效率高且利于组织集成电路测试的流水作业的集成电路翻面装置。

本实用新型的具体技术方案是:

一种集成电路翻面装置,所述的集成电路翻面装置包括设有转轴的旋转座、旋转驱动机构、挡板、入料轨道和底座;所述的旋转座设有沿圆周方向分布的至少两个集成电路容置通孔;所述的挡板设有出料通孔;所述的转轴与底座枢接,入料轨道和挡板分别位于旋转座的相对两侧并与底座固定连接;所述的转动驱动机构分别与旋转座和底座固定连接;所述的集成电路翻面装置设有用于控制入料轨道向旋转座送料的送料机构和检测旋转座转动角度的转角检测机构。该集成电路翻面装置使集成电路翻面效率高且利于组织集成电路测试的流水作业。

作为优选,所述的底座包括底板、固定板和至少两根连接杆;所述的底板设有安装通孔;所述的入料轨道包括座轨和与座轨固定连接的盖板;所述的座轨和盖板之间构成入料通道;所述的固定板和入料轨道分别位于底板的相对两侧,座轨的后端面与底板固定连接,固定板与安装通孔相对并通过连接杆与底板固定连接。底座结构简单。

作为优选,所述的送料机构包括前板、后板、两根过渡杆、入料挡销、过渡挡销和气缸;所述的座轨的后表面设有与入料通道贯通并与入料挡销匹配的后销孔,盖板的前表面设有与入料通道贯通并与过渡挡销匹配的前销孔;所述的前板位于盖板的前侧,后板位于座轨的后侧与固定板之间,两根过渡杆的两端分别与前板和后板固定连接;所述的入料挡销位于过渡挡销的下方,入料挡销的一端与后板固定连接,入料挡销的另一端伸入后销孔;所述的过渡挡销的一端与前板固定连接,过渡挡销的另一端伸入前销孔;所述的气缸与固定板固定连接,气缸的缸杆与后板固定连接;所述的后板与固定板之间设有至少一副导柱导套和一端与固定板固定连接的至少一块缓冲块。送料机构结构简单;缓冲块减小对入料轨道和集成电路的冲击。

作为优选,所述的旋转驱动机构包括传动带、电机、主动轮和从动轮;所述的电机与底座固定连接,电机的输出轴与主动轮固定连接,传动带套在主动轮和从动轮外,从动轮与转轴固定连接。旋转驱动机构结构简单。

作为优选,所述的电机为步进电机或伺服电机,主动轮和从动轮均为同步带轮,传动带为同步带。便于由微电脑控制器控制旋转座转动并提高旋转座的转动精度。

作为优选,所述的转角检测机构包括分别与底座固定连接的原点检测传感器、入料检测传感器和出料检测传感器;所述的旋转座的外周设有原点检测块;所述的入料检测传感器的测头与入料轨道的出口端相对,出料检测传感器的测头与集成电路容置通孔的出口端相对。集成电路翻面装置出现异常时能及时发现。

作为优选,所述的原点检测传感器、入料检测传感器和出料检测传感器均为光电传感器。通用件成本低。

与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:一.该集成电路翻面装置使集成电路翻面效率高且利于组织集成电路测试的流水作业。二.底座、送料机构和旋转驱动机构结构简单;缓冲块减小对入料轨道和集成电路的冲击。三.电机为步进电机或伺服电机,主动轮和从动轮均为同步带轮,传动带为同步带,便于由微电脑控制器控制旋转座转动并提高旋转座的转动精度。四. 原点检测传感器、入料检测传感器和出料检测传感器使集成电路翻面装置出现异常时能及时发现;原点检测传感器、入料检测传感器和出料检测传感器均为光电传感器,通用件成本低。

附图说明

图1是本实用新型的一种结构示意图;

图2是图1的A-A剖视图;

图3是图1的B-B剖视图。

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