[实用新型]三维形貌痕迹比对测量仪的摄像机照明装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及公安刑侦鉴识领域，特别是涉及一种在三维形貌痕迹比对测量仪上使用的光源夹具。

背景技术

目前我国对枪弹的弹头、弹壳及工具线条痕迹等方面的比对和检测，尚处在以实物样本存储来分析的状况，对痕迹信息的检测仍停留在借助单一仪器直接观察二维图像比对的技术层面上，无法解决在三维空间物体形貌技术和痕迹比对技术中存在的精确定位测量难题。在使用三维形貌痕迹比对测量仪时，由于观测的需要，急需一种用于对不同物体观测提供成像光照的易用的操作夹具。

实用新型内容

本实用新型的目的就是为了实现对不同物体观测提供成像光照的需要，提供了一种用于三维形貌痕迹比对测量仪的摄像机照明装置。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种三维形貌痕迹比对测量仪的摄像机照明装置，其特征在于，包括一个弧形的光源支架，其两端分别设有一个通孔，其上部通孔设有光源顶环，光源顶环中设有与显微摄像机连接的螺纹孔，光源支架的下部通孔内设有转向环，转向环内孔设有转向套，转向环的内孔与转向套的球形外壁配合，转向套内孔设有光源头，光源头内孔中插入光纤接头，光纤接头连接光纤，光源头的一端端联接有光源聚光筒。光源支架上设有顶丝与转向环配合定位。

使用时，将该光源夹具套在显微摄像机外筒上，将光源顶环以螺纹配合旋入显微摄像机外筒，支撑及定位光源夹具，在光源头的尾部插入外接光源接头，通过旋转光源支架可调整光源照射的位置，使用转向套可调节外接光源照射的角度，使用光源聚光筒可调节外接光源照射的聚光度。

综上所述,采用本实用新型的优点是通过设置光源夹具，使用光源支架、转向套、聚光筒对光源的照射位置、旋转角度和聚光度进行调整，可实现对测量物体取景成像工作的需要，其结构合理、性能稳定、操作简便，可用于微电子微机械精密件质量检测，从而提高质量检验技术水平和工作效率。

附图说明

图1是本实用新型的立体结构示意图；

图2是图1剖视图；

图3是本实用新型的使用状态图。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型作详细说明：

如图1、图2所示，为本实用新型提供的一种三维形貌痕迹比对测量仪的摄像机照明装置，包括光源支架1、光源顶环3、光源头2、光源聚光筒4、转向套7、转向环6、顶丝5。

如图1、图2、图3所示，所述光源支架1为弧形支架，其两端分别设有一个通孔，其上部通孔的下部设有光源顶环3，光源顶环3以螺纹配合旋接在显微摄像机8外筒上，光源支架1的下部通孔内设有转向环6，光源支架1与转向环6通过顶丝5固定，转向环6内孔设有转向套7，转向环6的内孔与转向套7的球形外壁配合，转向套内孔设有光源头2，光源头内孔与插入的光纤接头9配合，光纤接头9左端连接光纤10。光源头2的顶端外壁螺纹联接有光源聚光筒4。

以上所述的仅是本实用新型的优选实施方式。应当指出，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理的前提下，还可以作出若干变型和改进，这些也应视为属于本实用新型的保护范围。