[实用新型]同轴测温成像的激光聚焦系统有效

专利信息
申请号: 201220234503.1 申请日: 2012-05-23
公开(公告)号: CN202780232U 公开(公告)日: 2013-03-13
发明(设计)人: 王锋 申请(专利权)人: 武汉凌云光电科技有限责任公司
主分类号: B23K26/04 分类号: B23K26/04;B23K26/03
代理公司: 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 代理人: 樊戎
地址: 430205 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 同轴 测温 成像 激光 聚焦 系统
【权利要求书】:

1.一种同轴测温成像的激光聚焦系统,由CCD成像系统、测温光路和激光聚焦系统构成,其特征在于:所述的激光聚焦系统由准直系统(18)和聚焦镜(10)沿激光光路光轴(16)构成,准直系统(18)可以由一个或多个镜片组组成;CCD成像系统由聚焦镜(10)、合束镜(8)、反射镜(13)和调节镜(12)组成,可以将加工点(14)的图像成像于CCD(11)接收平面,合束镜(8)将激光与可见光合为一束同轴传播:测温光路由聚焦镜(2)、反射镜(3)、合束镜(9)和聚焦镜(10)组成,可以将温度的光信号采集到温度探测器(1)上,合束镜(9)将激光、可见光和温度光信号合为一束同轴传播。

2.根据权利要求1所述的同轴测温成像的激光聚焦系统,其特征在于:合束镜(8)位于激光光路光轴(16)和CCD成像光路光轴(17)上,将激光和可见光合为一束同轴传输。

3.根据权利要求1所述的同轴测温成像的激光聚焦系统,其特征在于:合束镜(9)位于激光光路光轴(16)、CCD成像光路光轴(17)和温度探测光路光轴(15)上,将激光、可见光和温度光信号合为一束实现同轴传输。

4.根据权利要求1所述的同轴测温成像的激光聚焦系统,其特征在于:第一聚焦镜(2)、第二聚焦镜(10)、调节镜(12)、准直系统(18)都可以是单透镜,也可以是组合透镜或多个透镜系统组成的等效透镜。 

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