[实用新型]超限位探测触点

说明书

技术领域

超限位探测触点，涉及位移监测技术领域，具体涉及一种用于超限状态的取样和信号输出的探测装置。

背景技术

在某些报警类控制检测中，需要对位置变化超出限度带来的风险做应对，仅仅探测是否超过限度，不关注其位移的具体数值的大小，这样的位移监测装置往往设置多个触点，如果检测三个线位移和三个角位移，设置的触点则更多、信号处理回路复杂，需要进行简化处理。

发明内容

本实用新型要解决的技术问题是：克服现有技术的不足，提供一种只需两个触点便可以检测正交系三个轴线方向上的位移是否超限的超限位探测触点。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：该超限位探测触点，其特征在于：包括支撑架，支撑架固定于待测物下平面的正下方，支撑架上并排安装两个方向朝上的接触针，两个接触针与待测物下平面安装的两个接触片分别形成常开触点和常闭触点。常开触点可以监测待测物向下移动是否超限，常闭触点可以监测待测物水平面上前后、左右移动和向上移动是否超限，结合两触点的位移变化可以计算得出待测物角位移是否超限。

所述的常开触点包括固定在支撑架上的常开接触针和固定在待测物下平面的常开接触片，常开接触针端头朝向常开接触片中心点并与常开接触片之间留有一定距离。

所述的常开接触针端头与常开接触片之间的距离为待测物允许向下移动的最大距离。待测物向下位移超限后，常开接触针端头与常开接触片接触，发出预警信号。

所述的常闭触点包括固定在支撑架上的常闭接触针和固定在待测物下平面的常闭接触片，常闭接触针伸入固定在支撑架上的导向筒内，常闭接触针上套有可以使其弹起的压缩弹簧，压缩弹簧使常闭接触针端头顶在常闭接触片中心位置。

所述的常闭接触针可上升的最大距离等于待测物允许向上移动的最大距离。待测物向上位移超限后，常闭接触针端头接触不到常闭接触片，发出预警信号。

所述的常闭接触片为四方形薄片，四方形薄片的边长为待测物允许水平面上前后或左右移动最大距离的2倍。待测物水平位移超限后，常闭接触针端头接触不到常闭接触片，发出预警信号。

所述的常闭接触片为圆形薄片，圆形薄片的半径为待测物允许水平面上前后或左右移动的最大距离。待测物水平位移超限后，常闭接触针端头接触不到常闭接触片，发出预警信号。

与现有技术相比，本实用新型的超限位探测触点所具有的有益效果是：

1、简化结构，仅应用两个触点便能检测正交系三个轴线方向上的位移是否超限：只需要设置常开触点和常闭触点，常开触点可以监测待测物向下移动是否超限，常闭触点可以水平面上前后、左右移动和向上移动是否超限；

2、可监测角位移是否超限：当需要以角位移提出限值时，可以根据角位移限定数值换算成相应的触点的线位移限值，根据线位移限值设定接触片和接触针的相关尺寸和安装配置，可监测角位移是否超限并完成超限信号的采集。

附图说明

图1是本实用新型结构示意图。

其中：1、支撑架  2、待测物  3、常开接触针  4、常开接触片  5、常闭接触针  6、常闭接触片   7、导向筒   8、压缩弹簧  9、卡子  10、螺钉。

图1是本实用新型超限位探测触点的最佳实施例，下面结合附图1对本实用新型做进一步说明。

具体实施方式

实施例1

参照附图1：该超限位探测触点，包括支撑架1，支撑架1固定于待测物2下平面的正下方，支撑架1上并排安装两个方向朝上的接触针，两个接触针与待测物2下平面安装的两个接触片分别形成常开触点和常闭触点。

常开触点包括固定在支撑架1上的常开接触针3和固定在待测物2下平面的常开接触片4，常开接触针3通过卡子9和螺钉10固定在支撑架1上，常开接触针3端头朝向常开接触片4中心点并与常开接触片4之间留有一定距离。常开接触针3端头与常开接触片4之间的距离为待测物2允许向下移动的最大距离。

常闭触点包括固定在支撑架1上的常闭接触针5和固定在待测物2下平面的常闭接触片6，常闭接触针5装入固定在支撑架1上的导向筒7内，导向筒7通过卡子9和螺钉10固定在支撑架1上，常闭接触针5上套有可以使其弹起的压缩弹簧8，压缩弹簧8使常闭接触针5端头顶在常闭接触片6中心位置。常闭接触针5可上升的最大距离等于待测物2允许向上移动的最大距离。常闭接触片6为四方形薄片，四方形薄片的边长为待测物允许水平面上前后或左右移动最大距离的2倍。