[实用新型]一种荧光靶探测器

说明书

技术领域

本实用新型涉及X射线束流位置监测设备，更具体地涉及一种荧光靶探测器。 

背景技术

X射线束流位置监测设备是同步辐射光束线不可缺少的重要组成部分，常用的束流位置监测设备有刀片式探测器、荧光靶探测器和丝扫描探测器，主要用于监测束流的稳定性，探测光斑的形状或光强的分布。其中，刀片式探测器大多用于光束线站的前端区，在线检测同步辐射光束的中心位置偏移情况；丝扫描探测器是用一根或多根导体丝扫过光束，根据金属丝上产生的光电流分布测量光束的中心和分布情况。荧光靶探测器主要用于光斑的形状和位置的观察，这是一种直观且简便的探测设备，在同步辐射X射线的位置测量中经常用到。 

荧光靶探测器是利用X射线打在某些物质，如晶体或荧光粉上发出可见光的现象，从而测量X射线的位置和空间分布。荧光靶探测器一般分为白光荧光靶探测器和单色光荧光靶探测器两类，若从X射线的能量来考量，就有软线和硬线之分，软X射线的能量一般低于2000eV，能被激发产生荧光的材料也和硬线的不同，因此，设计软线荧光靶探测器的关键之一主要就是荧光靶片材料的选择。 

荧光靶片的发光材料可以是荧光粉涂层或CVD金刚石薄片等。例如现有的白光荧光靶探测器采用的是CVD金刚石薄片作为荧光靶片材料的设计，而单色光荧光靶探测器采用的是荧光粉涂层设计。由于CVD金刚石材料在低能量段的发光效率不高，用作荧光靶片不能很好的实施光斑探测，因此，CVD金刚石片一般用于前端区和光束线的白光荧光靶的探测器中，那里的热负载较大。荧光粉涂层虽然发光效率高，但在超高真空情况下，容易粉尘脱落造成空间的污染，并且影响到环境的真空度。 

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种荧光靶探测器，从而解决现有技术中的无法探测较弱射线的荧光光斑以及污染真空环境等问题。 

为了解决上述技术问题，本实用新型的技术方案是提供一种荧光靶探测器，包括与真空管道对接并保持真空度的真空腔体；容置于所述真空腔体内的荧光靶芯体，所述荧光靶芯体包括荧光靶片，底座，冷却水管和压盖，其中，所述荧光靶片通过所述压盖固定在所述底座的迎光面，与入射光成45°角的所述底座的背光面设置有冷却水管，所述荧光靶片为YAG晶体荧光靶片；驱动所述荧光靶芯体升降的气缸；包括一连接杆的真空直线导入器，所述连接杆的两末端分别与所述气缸和所述荧光靶芯体连接；观察所述荧光靶芯体上的图像的CCD（电荷耦合器件）相机；以及用于限定所述气缸的驱动范围的上下限位开关。 

所述底座上设置有靠近所述荧光靶片的热电偶。 

所述荧光靶片的两面设有环形金箔垫片。 

所述底座为无氧铜底座。 

所述荧光靶探测器通过安装在所述气缸旁边的气动电磁阀进行控制。 

所述荧光靶探测器通过支架固定，通过所述支架的位置调节杆来调节所述荧光靶探测器的水平面。 

所述荧光靶探测器还包括有压缩空气接口和冷却水接口。 

本实用新型的荧光靶探测器采用YAG晶体荧光靶片，特别是在软X射线和单色X光的荧光靶探测器中采用YAG晶体荧光靶片。由于YAG晶体对于能量较低的射线的发光效率较高，因此通过本实用新型的荧光靶探测器可以非常容易地探测到即使很微弱的射线所产生的荧光光斑。另外，在采用YAG晶体荧光靶片的荧光靶探测器的安装调试上，本实用新型的荧光靶探测器更为简便和快捷。 

附图说明

图1示出了本实用新型的荧光靶探测器的结构； 

图2示出了本实用新型的荧光靶探测器的安装固定支架； 

图3示出了本实用新型的荧光靶探测器的真空直线导入器和荧光靶芯体的一个侧面； 

图4示出了本实用新型的荧光靶探测器的真空直线导入器和荧光靶芯体的另一个侧面； 

具体实施方式

下面结合附图，给出本实用新型的较佳实施例，并予以详细描述，使能更好地理解本实用新型的荧光靶探测器的功能、特点。