[实用新型]一种平板型单向可控硅通断性能诊断仪有效

专利信息
申请号: 201220194048.7 申请日: 2012-05-03
公开(公告)号: CN202583384U 公开(公告)日: 2012-12-05
发明(设计)人: 王太兴 申请(专利权)人: 王太兴
主分类号: G01R31/02 分类号: G01R31/02;G01R31/26
代理公司: 泰安市泰昌专利事务所 37207 代理人: 高军宝
地址: 271100 山东省*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 平板 单向 可控硅 性能 诊断仪
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及一种平板型单向可控硅通断性能诊断仪。

背景技术

可控硅是一种大功率开关型半导体器件,具体体积小、重量轻、效率高、寿命长等特点,被广泛用于可控整流、调压等各种大功率和自动控制的电能转换场合,目前在进行可控硅检测时,主要通过万用表测量可控硅进行检测,但这种检测方法,不够全面,受人为影响也较为严重。

发明内容

针对以上不足,本实用新型提供一种结构简单,携带方便的平板型单向可控硅通断性能诊断仪。

为达到上述目的,本实用新型的技术方案是:一种平板型单向可控硅通断性能诊断仪,其特征在于:包括触发电路、检测电路和断路器,所述的触发电路包括第一转换开关、变压器、桥堆,断路器火线通过第一转换开关与变压器一次侧火线端子连接,断路器零线与变压器一次侧零线端子连接,变压器二次侧与桥堆交流侧分别连接,桥堆直流侧正极与可控硅门极连接,桥堆直流侧负极与可控硅阴极连接,所述的检测电路包括第二转换开关、直流电源、电位器、灯泡,所述的断路器火线通过第二转换开关与直流电源火线连接,直流电源输出的直流电正极通过电位器与可控硅阳极连接,断路器零线与直流电源零线连接,直流电源输出的直流电负极通过灯泡与可控硅阴极连接。

所述的可控硅放置位置,设有可控硅放置盒,所述的可控硅放置盒,由铜板和绝缘板组成,第一铜板设于第一绝缘板内侧且固定为一体,第二铜板设于第二绝缘体内侧且固定为一体,第一绝缘板与第二绝缘板之间通过螺栓活动连接,第一铜板与可控硅阳极连接,第二铜板与可控硅阴极连接,绝缘板外侧分别设有连接线,连接线穿过绝缘板与铜板连接。

本实用新型的有益效果是:结构简单,可控硅放置盒为可调节结构,可以放置大小不一的可控硅进行检查,使用简单,可以快速的检测出可控硅通断性能的好坏。

附图说明

     图1为本实用新型的结构示意图。

具体实施方式

    根据附图作进一步说明在使用本实用新型时,操作第二转换开关,使之通电,如果灯泡亮,则可控硅坏,非门极可控。如果灯泡不亮,则不能判断可控硅坏,在上一步操作基础上(灯泡不亮),操作第一转换开关,使之通电,如果灯泡不亮,说明可控硅坏,不能触发使其导通;如果灯泡亮,说明可控硅导通性能正常,门极可控,上一步检测正常的基础上,操作第一转换开关1,使之断电。如果灯泡随之熄灭,则可控硅维持导通性能不好,不可用;如果灯泡继续保持不灭,则可控硅维持导通性能好,可控硅正常。上一步检测正常的基础上,旋转电位器,使电位器电阻逐渐增大,当电阻逐渐增大时如果灯泡熄灭,说明可控硅性能好,可以正常关断;如果灯泡不灭,说明可控硅关断性能不好,不能投入使用。

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