[实用新型]一种单向Tap-PD检测器

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种光通信领域使用的单向分光探测器结构，具体地说为一种单向分光检测器。

背景技术

单向分光检测器(Tap-PD)在光通信领域中用于测量光信号强度，且具备单向的光探测功能，即光从输出端进入将被大幅衰减而仅探测到极微量信号。其主要应用于像掺铒光纤放大器(EDFA)等光电模块产品中，可避免反向杂散光对光功率探测的干扰。

如图1所示的专利申请号为200710006784.9的现有技术，其揭示了一种单向光功率监测器结构。

该结构包括：具有第一和第二端的套筒69，且套筒69具有第一圆孔21和第二圆孔22，第一圆孔21的中心轴与第二圆孔22的中心轴不同心，第一圆孔21与第二圆孔22在中间壁26有连接的通孔27；有将光纤63与光纤64模压在玻璃毛细管62’中而形成的光纤尾纤62，两光纤轴线间距很小；有一端面镀有反射膜的柱状GRIN透镜67、圆柱管66及光电探测器70。

用圆柱管66将光纤尾纤62与柱状GRIN透镜67固定在其中，使光纤尾纤62的斜度端面面向柱状GRIN透镜67斜面端，两斜度端面有预定间距65，柱状GRIN透镜67另一端平面68镀有反射膜。通过套筒69将镀有反射膜的柱状GRIN透镜67与光电探测器70固定在套筒69两端的圆孔上，确定GRIN透镜67前端反射膜68到光电探测器70前端透镜72的距离。当从输入光纤63进入的光线进入柱状GRIN透镜67，透射出的光线(实线表示)斜射通过通孔27，绝大部分到达光电探测器70并被转为电流信号；当从输出光纤64进入的光线进入柱状GRIN透镜67，透射出的光线(虚线表示)被套筒69的中间壁26、壁面25吸收及多次反射后，只有极小部分到达光电探测器70并被转为电流信号。这样达成单向光功率监测器的方向性。

上述的单向光功率监测器，套筒69使用的材料为黑色陶瓷、石墨或黑色玻璃，这些材料为非常规材料，成本高且加工困难；光电探测器70在例子中为外径为2.0mm的mini型号，较常规尺寸的光电探测器成本高；器件组装时，将柱状GRIN透镜67与光电探测器70进行平移，使GRIN透镜67透射的光线到达光电探测器70，这样平移距离大，在例子中平移量为0.9mm，因此这种结构的单向光功率监测器在使用常规低成本型号的光电探测器时会直径较大，且输入与输出的光纤与器件的中心轴偏移大，器件封装时要为光纤弯曲后出纤预留较大间距，从而器件结构不紧凑，体积较大。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题在于提供一种易于制造、结构紧凑、体积小以及成本较低的单向Tap-PD检测器。

其所要解决的技术问题可以通过以下技术方案来实施。

一种单向Tap-PD检测器，包括外封管和内通光管，所述外封管两端开设有用于定位双纤G-Lens准直器的第一圆孔和用于定位光电探测器的第二圆孔，所述第一圆孔或第二圆孔的中心轴与外封管同轴，所述第一圆孔与第二圆孔经一通孔相连通，所述内通光管安放于所述通孔内，所述通孔具有一中心孔，所述中心孔的孔径略大于通过所述内通光管的光的光斑直径；所述第一圆孔的中心轴与第二圆孔的中心轴间的倾斜角为α，所述双纤G-Lens准直器透射光线与双纤G-Lens准直器中心轴的偏角为β，其中α≤β。

作为本技术方案的进一步改进，所述第一圆孔的孔深大于所述第二圆孔的孔深。

作为本技术方案的更进一步改进，所述双纤G-Lens准直器相对于所述第一圆孔的进给深度可调节。

作为本技术方案的又进一步改进，所述双纤G-Lens准直器相对于所述第一圆孔可转动。

此外，所述第一圆孔的孔壁上开设有一组适宜于将所述双纤G-Lens准直器与所述第一圆孔焊接为一体的焊接孔。例如，一组所述焊接孔共有4个，所述4个焊接孔沿所述第一圆孔的孔壁环形排列。

还作为本技术方案的进一步改进，所述第二圆孔的中心轴与所述外封管同轴，所述倾斜角α的大小为2～6°。或者，所述第一圆孔的中心轴与所述外封管同轴，所述倾斜角α的大小为2～4°。

此外，所述外封管最好为不锈钢外封管，所述内通光管也最好为不锈钢内通光管。

作为本实用新型的优选实施例之一，所述双纤G-Lens准直器包括一外封套管，一安设在所述外封套管内的玻璃管，以及安设在所述玻璃管内并沿径向依次排列的双纤尾纤、柱状自聚焦透镜、透射与反射膜片；所述柱状自聚焦透镜的两端镀有增透膜，其中靠近双纤尾纤的一端为斜面；所述双纤尾纤内安设有头部镀有增透膜并具有与所述斜面相同斜度的双纤毛细管和一对光纤。