[实用新型]一种X射线测量金属材料厚度装置有效
申请号: | 201220175666.7 | 申请日: | 2012-04-16 |
公开(公告)号: | CN202511772U | 公开(公告)日: | 2012-10-31 |
发明(设计)人: | 王冠凌;许钢;张春;王筱薇倩;生芳;查君君;周鹏;张乔;韦永强 | 申请(专利权)人: | 安徽工程大学 |
主分类号: | G01B15/02 | 分类号: | G01B15/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 241008 *** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 射线 测量 金属材料 厚度 装置 | ||
技术领域
本实用新型属于一种材料测厚装置,尤其是一种X射线测量金属材料测厚装置。
背景技术
在许多重要工业应用中,常常遇到金属材料厚度测量问题。在金属材料生产线上对金属材料的连续厚度测量时保证技术材料质量的重要手段。上世纪50年代厚度测量技术处于研究阶段,然而经过几十年的研究与发展,厚度测量技术得到广泛的推广与应用。随着射线控制技术不断发展和成熟,其在工业和医疗领域的应用也越来越广泛。X射线已成功运用于热轧带钢的厚度和板型的测量,体现出了良好的性能,能够适应现场较恶劣测量,并保持长期稳定运行。然而以前的X射线测厚仪对金属材料的厚度有一定的限制,对于不同厚度的金属材料可能无法精确的进行测量。
目前,国内使用的传统金属材料厚度测量方法都有其一定的缺陷:
1、人工卡尺测量是指由工人用千分尺手工完成厚度测量,虽然使用方便,维修简单和价格低廉,但是它影响生产速度,生产效率不高。
2、机械式测量是指采用机械接触式的方法进行测量,虽然使用方便,测量精度较高,但在被测金属高速运动情况下,传感器与被测金属之间长时间接触会造成传感器的磨损,从而影响测量精度,严重时还会划伤金属表面而降低产品的质量。
3、X-射线测量方面还存在射线管两端的电压电流精度要求有所不足,在要求较高的金属板材料的厚度测量也难以满足要求,而且控制方法较为复杂,不易实现。并且现有的X射线测厚仪对金属材料的厚度有一定的约束,对于不同金属厚度的材料其测量精度有很大的差别。
实用新型内容
为解决现有技术中存在的问题,本实用新型提供了一种X射线测量金属材料厚度装置,其特征在于,包括,X射线高压电源、X射线探测器、A/D转换器、测量变送器,其中,所述X射线高压电源连接X射线源,所述X射线源发射出X射线,所述X射线探测器接收穿过金属板材料的所述X射线,通过所述测量变送器测得金属料厚度对应的电压值经过所述A/D转换器传入计算机中。
其中,所述电压值经过所述A/D转换器转换为数字信号。
其中,更包括数字信号处理器。
其中,所述数字信号传至所述数字信号处理器中,所述数字信号处理器经过处理,再传至所述计算机中。
其中,所述计算机包括输出接口,用于将所述计算机分析的数据输出。
其中,所述测量变送器测得金属料厚度对应的电压值对应电压信号。
其中,所述X射线探测器检测所述X射线透过金属材料的强度输出直流电压,所述电压信号与到达所述X射线探测器的X射线强度成正比。
其中,所述计算机将测量的金属材料厚度值通过所述输出接口输出。
附图说明
图1是本实用新型的系统运行方框图
图2为本实用新型原理框图
具体实施方式
为了提高X射线测厚仪的测量精度,本实用新型提供了一种X射线测量金属材料厚度装置,使用稳压稳流X射线源及C型架,采用金属厚度与X射线的数字化处理,提高了测量精度。实现在金属材料生产线上连续自动化测量。
本X射线测量金属材料厚度装置,包括,X射线高压电源1、X射线探测器3、A/D转换器5、测量变送器4,其中,所述X射线高压电源1连接X射线源 2,所述X射线源2发射出X射线,所述X射线探测器3接收穿过金属板材料的所述X射线,所述测量变送器4测得金属料厚度对应的电压值对应一电压信号,所述X射线探测器4检测所述X射线透过金属材料的强度输出直流电压,所述电压信号与到达所述X射线探测器4的X射线强度成正比。所述电压信号通过经过所述A/D转换器5转换为数字信号,所述数字信号传至数字信号处理器6中,所述数字信号处理器经过处理,再传至计算机7中。所述计算机7包括一输出接口,用于将所述计算机7分析的数据输出,所述输出接口输出的信号转换为厚度。通过查表得到金属材料的厚度,获得测量值。所述X射线测量金属材料厚度装置的X射线探测器3采集到的电流信号经电压电流转换器转换后成为电压信号,再经放大后输入所述计算机7数据采集装置。X射线测厚仪操作系统的主要功能包括数据采集、据存储、线偏差、曲线补偿及标定曲线等。
本实用新型通过被测物体的射线电压和被测物体的厚度及材质有关,成曲线关系,通过曲线拟合,得到曲线函数,通过该函数作出金属材料厚度与X射线的电压对应表。将射线通过金属材料厚度的电压信号,经过数字信号处理传输到所述计算机7,在一定质量厚度变动范围内,可以用来测量物质的质量厚度。
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