[实用新型]一种光纤连接器的端面和光学性能合并检验的装置

说明书

技术领域

    本实用新型涉及光通信产品领域，尤其涉及一种光纤连接器的端面和光学性能合并检验的装置。

背景技术

在光通信产品跳接线的生产过程中，需要对跳接线连接器进行端面研磨，然后检验端面的研磨质量和跳接线的光学性能。

现有的生产工艺中，跳接线研磨完毕后，先检查端面，达到质量要求后送入测试工位，进行光学性能测试，合格后再进行二次端面检验，剔除因搬运或测试造成的端面碰伤损坏，最后进行包装。但存在以下问题：

1.       工序基本为：研磨→端面1→测试→端面2→包装，周期十分繁琐,不利于流水线操作,无法提高生产效率和节约成本。

2.       在整个流程中，跳线的连接器在搬运或测试过程中可能会接触到金属.桌面等物体,导致其端面碰坏或被污染;如果能减少一道工序就减少了被污染或碰坏的概率。

3.       测试时，需要在测试光源和被测试跳接线之间连接上一根标准主纤(参考图1),但主纤的使用寿命十分有限(约500次配接),所以造成频繁地更换主纤,也导致主纤的使用量及额外成本很高。

4.       被跳线两端的连接器和测试设备及主纤都为物理无缝接触，就会造成以下2个问题： 如果测试仪器或主纤的端面比较脏污或有灰尘等杂物，和被测线配接后，这些脏污或灰尘等就有可能传染到被测连接跳线端面上;如果测试设备或主纤端面已经损伤或有硬物,当配接时,就会损伤或顶坏被测连接器的端面.所以传统的方法都是每测试一个连接器前,都必须用端面仪检查设备与主纤的端面,不仅需要大量的端面仪器,而且操作繁琐,生产效率极低。

5.       采用无缝接触式测试，测试过程中难免会造成连接器端面的碰伤，增加返磨工作量。多次返磨后,陶瓷插芯的长度变短到一定程度,无法符合产品规范要求,只能报废,造成人力和插芯的极大浪费。

6.       端面2完成后,需要花时间更换成新的干净的防尘帽,以保证后续操作及客户应用中的端面干净,不利于提高生产效率。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是提供一种能通过简单观察即可检验跳接线产品是否存在端面质量或光学性能不良的装置。

    为实现以上目的，本实用新型采用的技术方案：一种光纤连接器的端面和光学性能合并检验的装置，其特征在于它包括光源、电子显微镜、显示器、光功率计；其特征还在于，所述的电子显微镜连接显示屏；光源位于电子显微镜的一端；本装置还设置有光功率计。

所述的光源采用稳定的LED红光源。

所述的端面放大镜采用800倍率的电子显微镜。

所述的光功率计采用精度等级为0.5%的光功率计。

本实用新型的有益效果是：

1、工序改进为: 研磨→端面测试→包装,合并了测试和端面1到一个工位上,取消了端面2;工序简单实用,有效节约生产工时,提高了生产效率,从原来的每个连接器检验需要5分钟，降低到15秒。

2、端面测试好后直接戴上干净的防尘帽,直接包装,有利于形成了流水线作业,产品基本无需搬动,极大地减少由于搬动而造成的污染或碰伤等不良概率。

3、取消了测试主纤,不会产生额外的费用。

4、连接器和测试设备之间都采用非接触式,测试设备的光源和光功率计上的脏污或灰尘.损伤，硬物等都不会影响到被测试连接的端面, 有效避免连接器端面的碰伤,降低了返磨次数及插芯报废率。

附图说明

图1为现有的生产工艺中的测试基本图。

图2为本实用新型的示意图。

具体实施方式

如图2所示，本实用新型所述的一种光纤连接器的端面和光学性能合并检验的装置，其特征在于它包括光源、电子显微镜、显示器、光功率计；其特征还在于，所述的电子显微镜连接显示屏；光源位于电子显微镜的一端；本装置还设置有光功率计。

     采用本装置检验跳接线的工作过程如下：

1、先将一条标准跳接线主纤的一头插入光源，另一头插入光功率计，进行归零，每四小时核对一次。

2、将研磨好的跳接线连接器清洁后一端插入光源，另一端插入800倍电子显微镜，检查端面研磨质量，同时在显示器屏幕上观察纤芯的光斑，如有散光或弱光现象，则可判定此根跳接线为不良品，无需再插入光功率计测试，做好标记进行返修；如果端面质量不合要求，做好标记，返回研磨重磨。

3、将端面合格无散光或弱光的连接器从电子显微镜拔出，插入光功率计，观察读数，如小于标准值，则判定为合格品。