[实用新型]一种高速光组件测试夹具

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种光通信用光组件测试装置，尤其涉及一种10G以上高速光组件测试夹具。

背景技术

寿命参数是衡量光组件产品最重要的性能指标之一。传统的光组件寿命测试方法是将器件在其正常工作条件下，根据其失效时间来计算其寿命。由于光组件中的半导体光器件（激光器LD、光接收器PD）的寿命一般都很长，不便于实际操作。于是对于光器件的寿命测试，通常的测试方法都是采用升温加速失效，在该过程中测量相关参数来计算半导体光器件的有效预期寿命。现有的寿命试验装置都是针对低速率（10G以下速率）的光器件，由于产品速率较低，RF射频指标的测试受到器件管脚的寄生参数影响较小，测试电路板（PCBA）可以使用一般的加电管脚插座直接与TO管脚插拔，寿命考核用电路板（PCBA）和测试用电路板（PCBA）上设置对应的插孔，光组件可以方便的插拔切换，比如先将光组件在一寿命考核用电路板（PCBA）上进行批量供电的寿命试验，到达一定时间后可以快速的拆卸，然后将光组件转移至常温测试系统中进行测试。由于光组件可直接插拔的特性，寿命考核和光电指标的测试可以独立进行，互不影响。但是，当光组件的速率达到10G以上，由于RF射频指标的测试受光器件管脚的寄生参数影响很大，光器件管脚必须通过一柔性电路板（FPC）与不同实验环境用电路板（PCBA）连接，才能保证测试结果的准确性，导致在寿命试验与性能测试的交替过程中，柔性电路板（FPC）需要与不同电路板反复焊接、拆卸，造成柔性电路板（FPC）损伤大，不能保证寿命试验和测试条件的一致性，严重影响了寿命试验结果。

实用新型内容

为了克服以上缺点，本实用新型提供了一种结构简单、拆装方便快捷的高速光组件测试夹具。

为实现以上发明目的，本实用新型提供一种高速光组件测试夹具，包括：一测试夹具主体座，其上表面包括第一、第二区域，第一区域活动连接一测试电路板，所述第二区域用于活动放置一待测光组件，该光组件的高速TO管脚通过一柔性电路板与所述测试电路板连接；位于测试夹具主体座一侧设有滑块腔体用于容纳一带第一弹簧的滑块，该滑块底部设有限位突起，其第一弹簧顶于滑块腔体侧壁；位于测试夹具主体座的第二区域设有一限位块和一通孔，该通孔内设有一带有第二弹簧的挡块，挡块顶部自通孔底部向外伸出，第二弹簧顶于通孔的侧壁处；一密封底板与所述测试夹具主体座下表面活动连接，该密封底板设有一限位槽与所述滑块底部的限位突起相适配；所述密封底板四角设有向外伸出的四个定位突起；一测试夹具固定基座，其中心设有一空腔与所述密封底板相适配，该空腔的四角分别设有与所述定位突起相适配的凹槽，且空腔的其中一边设有与所述滑块位置对应的锁定台阶；寿命试验供电板，该主板上设有多个所述测试夹具固定基座的安装位，所述测试电路板通过跳线连接头与寿命试验供电板电连接。

还设有一顶紧螺栓通过与所述测试夹具主体座的螺孔相适配用于前后调节挡块。

所述寿命试验供电板还设有多个加电管脚插座与所述待测光组件的低速TO管脚连接。

所述寿命试验供电板还设有多个发光二极管LED指示灯。

由于上述高速光组件测试夹具可以通过密封底板设置的多个定位突起与测试夹具固定基座空腔活动连接，当需要将位于寿命试验供电板上正进行寿命实验中的光组件移出光电性能测试时，只需移动动滑块，使密封底板的四个定位突起自测试夹具固定基座的凹槽内脱落即可；而当光组件性能参数测试完毕后再继续进行寿命时，移动滑块，反方向轻推测试夹具主体座，使密封地板的定位突起卡入测试夹具固定基座的凹槽中，并通过锁定台阶使整个测试夹具稳固于测试夹具固定基座的空腔内，即可置于高温箱中继续进行寿命试验。测试电路板与寿命试验供电板之间通过跳线实现活动电连接，光组件能够方便快捷地拆卸和安装，可以在寿命实验与性能参数测试两种环境间切换，不需要反复焊接、拆卸柔性电路板。同时在供电PCBA板上设置了加电管脚插座，还可以兼容低速率（10G以下速率）光组件以及高速光组件低速管脚的寿命试验和测试；在供电PCBA板上还安装了发光二极管LED指示灯，能够时时监控组件的工作状态，经济实用。

附图说明

图1表示本实用新型高速光组件测试夹具零件爆炸示意图；

图2表示图1所示测试夹具主体座底部立体结构示意图；

图3表示图1所示测试夹具固定基座的平面结构示意图；

图4表示图1所示高速光组件测试夹具装配结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图详细描述本实用新型最佳实施例。