[实用新型]金属平板表面温度标定系统有效

专利信息
申请号: 201220136312.1 申请日: 2012-03-31
公开(公告)号: CN202494532U 公开(公告)日: 2012-10-17
发明(设计)人: 廖慧;伍成波 申请(专利权)人: 中冶南方(武汉)威仕工业炉有限公司
主分类号: G01K15/00 分类号: G01K15/00
代理公司: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 代理人: 伍见;唐万荣
地址: 430223 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 金属 平板 表面温度 标定 系统
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及冷轧金属板带热处理技术领域,尤其涉及在金属板带的热处理工艺中,用于标定光洁无氧化金属平板表面温度的装置,该装置可应用于冷轧金属热处理生产线,以及使用光洁表面金属平板进行实验研究和产品开发的领域。

背景技术

随着各产业对高质量产品的需求不断增加,金属平板热处理的工艺要求也越来越严格。在热处理过程中,为了得到一定机械性能和良好表面特性的金属平板产品,需要将金属平板精确的加热或冷却到特定工艺温度点(或温度区间内),以保障金属平板的机械性能或表面质量在产品所要求的范围内。因此,我们需要保证仪表测得的金属平板表面温度的准确性。

在连续性生产机组中,由于物料在连续运动中,无法对金属平板表面温度进行接触式测量,因此非接触式测量方式,如红外线成像等,就成了主要的在线测量手段。

然而非接触测量方式受很多因素的干扰,如红外热像仪温度测量的准确性受被测物体表面的发射率、环境温度、大气温度、大气衰减率、太阳辐射等的影响,其中发射率的影响最为突出,直接进行测量的结果往往不准确。因此,我们需要在离线状态下,先用接触式的测量方式,对非接触式温度仪表需要准确测量的温度区间进行标定,即通过接触式温度仪表直接测量一组被测物质表面的温度,作为基准值,测算出该物质表面的实际发射率,从而保证该非接触仪表测量同样的金属物质表面温度时的准确性。

 物质表面的发射率不仅取决于物质的内在性质,同时还取决于物质表面的物理状态、光滑程度等,这些因素使得发射率的测量很复杂,而发射率数值的准确直接影响红外测温数据的准确性,所以如何确定被测物体表面的发射率已成为红外热像测温技术中的一个主要课题。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是提供一种结构简单、使用方便,能为光洁的金属平板提供准确可靠的温度测量的金属平板表面温度标定系统。

本实用新型所采用的技术方案是:一种金属平板表面温度标定系统,它由恒温浴装置和温度测量装置组成,所述的恒温浴装置包括恒温浴箱,所述的恒温浴箱由底板和壁面组成,所述的壁面由恒温浴箱本体壁面和由被测金属平板做的一个壁面组成,所述的恒温浴箱内置有恒温浴介质,所述的恒温浴箱还包括有对恒温浴介质进行加热的加热元件;所述的温度测量装置包括非接触式的测温仪和直接接触式的热敏元件,所述的直接接触式的热敏元件置于恒温浴箱内,并安设在被测金属平板的内侧面上;所述的非接触式的测温仪安设在被测金属平板的外侧。

 按上述方案,所述的恒温浴装置还包括有对恒温浴介质进行搅拌的搅拌器;所述的温度测量装置还包括用于监测恒温浴介质温度的恒温浴介质测温元件。

 按上述方案,所述的恒温浴箱还包括有带排气孔的盖子。

 按上述方案,所述的直接接触式的热敏元件有4个或4个以上,均匀分布在被测金属平板内侧面上;所述的非接触式的测温仪有一台或一台以上。

 按上述方案,所述的恒温浴箱本体壁面上包覆有保温材料。

按上述方案,所述的恒温浴箱本体壁面的材质与被测金属平板的材质一样或者化学成分靠近。

 按上述方案,所述的被测金属平板的内侧面上设有直接接触式的热敏元件的安装孔,直接接触式的热敏元件直接插入安装孔中。

 按上述方案,所述的加热元件为燃气加热元件和/或电加热元件;所述的恒温浴介质为水、非挥发性油、细沙、非挥发性盐或铅。

 按上述方案,所述的被测金属平板的外侧安设有带观测孔的测量黑箱,测量黑箱通过金属板密封装置密封安设在被测金属平板上,所述的非接触式的测温仪安设在测量黑箱上。

按上述方案,在测量黑箱内部,接近被测金属平板处,沿横向和纵向方向设有直径在1mm以下的金属丝。

本实用新型的有益效果在于:1、结构简单、使用方便。2、采用多个测温热电偶或测温电阻与金属平板直接接触测温,测温结果准确可靠。3、可标定的温度范围广,在金属平板表面不发生物理或化学变化的情况下,可标定0-1500℃范围内的温度点。4、容易维护、经济性好。

附图说明

图1是本实用新型一个实施例的结构示意图。

图2是被测金属平板测温元件在被测金属平板内侧面上的分布示意图。

图3是被测金属平板测温元件在厚的被测金属平板截面上的安装示意图。

图4是多台红外温度测量仪与测量黑箱的结构示意图。

图5是单台红外温度测量仪对被测金属平板进行温度测量的结构示意图。

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