[实用新型]阵列测试设备的校验系统、位移检测装置以及移动装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及应用电子技术领域，尤其涉及阵列测试设备的校验系统、位移检测装置以及移动装置。

背景技术

由于平板显示器的生产工艺非常复杂，因此生产出的平板显示器不可避免的会出现各种缺陷，例如，液晶面板上的线路断开，或者线路连接有误等；目前，通常使用阵列测试设备(Array Tester)对液晶面板进行检测，该阵列测试设备的结构如图1所示，其中包括电耦合摄像机(CCD Camera)11、光学系统12以及检测底座(Mount)13；所述CCD Camera11中的像素与被检测产品中的像素一一对应；所述Mount13上还安装有调节器，所述调节器表面有一层液晶分子，正常情况下该液晶分子会将被检测产品发出的光线作为光信号反射给所述CCD Camera11，使所述CCD Camera11中的像素能够接收被检测产品中与CCD Camera11相对应的像素的光信号；当被检测产品存在缺陷时，调节器中的液晶分子会旋转一个角度，而这个角度将导致CCD Camera11中的像素无法接收被检测产品中与CCD Camera11相对应的像素的光信号。

而阵列测试设备上主要部件为所述光学系统12，而所述光学系统12是否能够毫无偏差的接收到来自所述Mount13的光信号，主要取决于所述光学系统12与所述Mount13之间的光路是否会产生偏差。在实际使用中，由于在动力或其他外力的作用下所述光学系统12和所述Mount13之间将会产生位移，直接导致所述光学系统12与所述Mount13之间的光路产生偏差；当所述偏差轻微时，会对液晶面板的检测结果报出不准确的不良检测结果；当所述偏差严重时，将会报出大量的不准确的不良检测结果。

现有技术中为了避免这种现象，需要经常对所述光学系统12和所述Mount13之间的位置进行校正以保证光学系统光路的准确性。校正的方法是工作人员通过对所述Mount13通过敲击的方式进行调整。

但本发明人发现，在敲击的过程中还是很容易出现光路偏差或转角，且敲击产生的震动容易损坏所述光学系统12内的部件，因此在调整过程中需要轻、准、稳，这样就使得调整的难度增大、准确性降低。

实用新型内容

本实用新型涉及应用电子技术领域，尤其涉及一种阵列测试设备的校验系统、位移检测装置以及移动装置，用于解决如何自动调整阵列测试设备中光学系统与检测底座之间位移的问题。

一种阵列测试设备的校验系统，所述校验系统包括阵列测试设备，所述阵列测试设备包括电耦合摄像机，光学系统以及检测底座；所述校验系统还包括：

安装在所述光学系统上或所述检测底座上的位移检测装置；安装在所述检测底座上的移动装置；

所述位移检测装置，用于检测所述光学系统与所述检测底座之间的位移；所述移动装置，用于在所述位移检测装置检测到所述光学系统与所述检测底座之间产生位移时，根据所述位移带动所述检测底座进行移动。

一种位移检测装置，应用于阵列测试设备，安装在所述阵列测试设备的光学系统上或所述检测底座上；所述位移检测装置包括初级线圈、两个相同的次级线圈以及铁芯；所述铁芯放置在所述初级线圈和所述两个相同的次级线圈之间，还包括计算单元；

所述次级线圈与所述计算单元相连，将所述铁芯发生移动时产生的直流电压传输给所述计算单元；

所述计算单元根据接收到的所述直流电压计算出位移量并输出。

一种移动装置，应用于阵列测试设备，安装在所述阵列测试设备的检测底座上；所述移动装置包括马达、齿轮和齿条；所述马达与所述齿轮相连，所述齿轮位于所述齿条上，所述齿条嵌入在所述检测底座上，还包括计算单元；

所述计算单元与所述马达相连；所述计算单元根据接收到的位移信号计算出位移量，并将该位移量传输给所述马达；

所述马达根据接收到的位移量带动所述齿轮在所述齿条上移动。

可见，采用本实用新型实施例提供的校验系统，当检测出光学系统与检测底座之间发生了位移后，可精确计算出光学系统与检测底座之间偏移的位移量，该位移量包括位移距离与位移方向；由于，移动装置安装在检测底座上，当移动装置接收到所述位移量后，带动检测底座按照位移量中所包含的位移距离与位移方向进行移动；可见，本实用新型实施例提供的系统能够实现自动调整阵列测试设备中光学系统与检测底座之间的位移。

附图说明

图1为现有技术中种阵列测试设备的结构示意图；

图2为本实用新型实施例一提供的种阵列测试设备的检验系统结构示意图；