[实用新型]一种新型的光分路器测试装置有效

专利信息
申请号: 201220110301.6 申请日: 2012-03-22
公开(公告)号: CN202495940U 公开(公告)日: 2012-10-17
发明(设计)人: 刘丹;黄望隆 申请(专利权)人: 武汉驿路通光讯有限公司
主分类号: H04B10/08 分类号: H04B10/08
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 430000 湖北省武汉市洪*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 新型 分路 测试 装置
【说明书】:

技术领域:

实用新型涉及光分路器测试技术领域,具体涉及一种新型的光分路器测试装置。

背景技术:

在中国电信“光网城市,宽带中国”带动下,根据“十二五”规划中的宽带建设规划,光通信投资成为“十二五”期间的主题之一。光通信行业将会明显受益于运营商资本性支出结构性倾斜,光通信产业在“十二五”期间将有爆发性的增长。

今年以来,国内三大运营商都加大了在接入网方面的建设投入,尤其是在FTTx的大规模建设浪潮下,进行了大规模光分配系统设备的集采。光分路器作为光分配系统设备中的核心组件,三家运营商的总采购量在这几年一直保持着快速的增长。据悉中国联通今年集采了22万件的光分路器设备,总计1亿多人民币,而中国移动今年的光分路器集采公告也已发布。

随着运营商集采力度的增强及采购量的增加,光分路器的价格势必会逐渐降低。那么在保证这种电信级产品品质的前提下,如何降低成本是光分路器生产厂家所需要考虑的重要环节。

光分路器的测试是管控产品品质的一个非常重要的环节,而作为电信级的器件,国家标准对光分路器的测试项目进行了详细的规范和定义,这些测试项目中最为重要的项目有:插入损耗(IL)指标的测试;回波损耗(RL)指标的测试;偏振相关损耗(PDL)指标的测试。传统的测试方法针对这些项目都是分开来进行的,对于光分路器而言完成这三个项目的测试需要三个不同类型的测试工位来完成,裸器件的测试一根光纤需要熔接两次以上,多次熔接会带来成本的增加及测试过程变得漫长,带连接头的器件完成多次测试则有可能带来端面损伤的几率大大增加。

实用新型内容:

本实用新型的目的是提供一种新型的光分路器测试装置,它将多种测试项目合并进行测试,减少单支器件产品的测试时间,从而起到大幅度降低成本的作用。

为了解决背景技术所存在的问题,本实用新型是采用以下技术方案:它包含光源1、第一光开关2、第二光开关3、PDL控制器4、第三光开关5、双通道功率计6、左侧耦合器7、被测件8、耦合器组9、八通道功率计10和PLC控制器12;光源1与第一光开关2连接,第一光开关2与第二光开关3连接,第二光开关3分别连接PDL控制器4和PLC控制器12连接,PDL控制器4与第三光开关5连接,第三光开关5与左侧耦合器7连接,左侧耦合器7同时连接双通道功率计6和被测件8的一端,被测件8另一端与耦合器组9连接,耦合器组9同时连接八通道功率计10和PLC控制器12。

所述的第二光开关3、PDL控制器4和八通道功率计10通过无线信号同时连接软件控制器11。

所述的第一光开关2与第三光开关5之间通过信号连接。

本实用新型相比传统型的测试方法,该测试系统投入较大且系统较为复杂,但是能大大提高测试效率、节约测试成本;规避人为因素,提高测试的准确性;测试过程完全电子化,数据的电子化储存方便后期的工艺分析与数据统计。这种测试方法和系统是光分路器生产厂家特别是大规模生产厂家较好的选择。

附图说明:

图1是本实用新型的结构示意图。

具体实施方式:

参看图1,本具体实施方式是采用以下技术方案:它包含光源1、第一光开关2、第二光开关3、PDL控制器4、第三光开关5、双通道功率计6、左侧耦合器7、被测件8、耦合器组9、八通道功率计10和PLC控制器12;光源1与第一光开关2连接,第一光开关2与第二光开关3连接,第二光开关3分别连接PDL控制器4和PLC控制器12连接,PDL控制器4与第三光开关5连接,第三光开关5与左侧耦合器7连接,左侧耦合器7同时连接双通道功率计6和被测件8的一端,被测件8另一端与耦合器组9连接,耦合器组9同时连接八通道功率计10和PLC控制器12。

所述的第二光开关3、PDL控制器4和八通道功率计10通过无线信号同时连接软件控制器11。

所述的第一光开关2与第三光开关5之间通过信号连接。

本具体实施方式需要将光源光纤线与测试光纤线对接,软件系统控制功率计进行参考值的读取;且本系统需要记录两条路径的参考值,分别为第二光开关3——PDL控制器4和第二光开关3——PLC控制器12,所以功率计记录两条路径的参考值;对于未加连接头的光分路器的测试,需要配备带状光纤熔接机,光分路器的带状光纤与测试线的带状光纤接续完之后,操作系统软件完成测试及测试数据的保存。如果是已加连接头的器件,则无须配备带状光纤熔接机,只需配备相同连接头型号的标准测试跳线,器件与标准跳线接驳好之后操作系统软件完成测试。

本具体实施方式相比传统型的测试方法,该测试系统投入较大且系统较为复杂,但是能大大提高测试效率、节约测试成本;规避人为因素,提高测试的准确性;测试过程完全电子化,数据的电子化储存方便后期的工艺分析与数据统计。这种测试方法和系统是光分路器生产厂家特别是大规模生产厂家较好的选择。

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