[实用新型]一种自动测量目标对单光子偏振态影响的系统

说明书

技术领域

本专利涉及光学检测技术，特指一种高精度自动测量目标对单光子偏振态影响的系统。 

背景技术

偏振是光的一种特性，通过对光偏振现象的研究，偏振技术已经广泛地英语于生物、化学、工程等多个学科：利用蔗糖等溶液具有旋光性制成的测量溶液糖度以判断水果等的成熟程度的糖度计；利用具有相互垂直偏振方向的图像光束而形成的立体电影等立体画像；利用玻璃等均质材料上施加外力会产生成比例的双折射现象的光弹性效应的工程检测方法等。 

随着人们认识与研究的不断深入，单光子偏振应用开始逐渐为人们所关心。传统的保密方式已被证实在超高速的计算机运算下不再安全，而量子通信由于光子的不可分割、不可复制等量子力学特性而具有绝对保密性，其已被全世界的科学家们追捧。中国、欧洲和美国的科学家们正计划以星地量子通信和光纤量子通信为基础构建全球的保密通信网络。而单光子偏振编码的超远程空间通信也逐渐为世界各国所验证并逐渐推向应用。 

在单光子偏振应用及其研究过程中，为获取不同目标对偏振光的影响特性，必须对经过目标作用后的单光子偏振特性进行测量。原有的偏振态检测系统都具有一定的局限性：专利申请号200520040201.0的“一种新型快速椭圆偏振光测量仪”，其在使用中采用组合检偏器和二维CCD探测器来获取材料的光学参数，已经考虑到检测目标对光束偏振态的影响，但是在使用中仍存在一些 问题：1、在测量手段上仍采用单路直流的方式，检测的精度不高；2、研究目标对光束偏振态的影响时，只能完成单维的偏振测量，不能测量各向同性均匀材料，不能完全满足应用的需要。为解决以上系统的局限性，我们发展了如专利200910049106.X“一种高精度自动测量目标对传输光束偏振态影响的系统”并获得授权，但是该系统检测的影响仍处于强光水平，不能满足现在及将来应用中的单光子偏振态影响的需求。专利申请号201010565062的“一种实时检测单光子偏振量子态的装置与方法”，其在使用中延迟片等偏振测量元件的标定精度要求很高，测试系统累加的误差将在结果中被放大，最终将对系统的测量结果产生不确定的测量误差影响和精度下降，且根据测试目标的特性需要调节测试结构。 

本专利充分考虑实际偏振应用的需求，基于偏振原理，采用双光路补偿、单光子探测等技术，设计合理可行的光机结构，利用计算机自动控制各旋转电机和电动平台，最终实现自动化测量目标对单光子偏振态影响的目的。 

发明内容

本专利的目的在于，在现有偏振光检测模式的基础上，结合现今单光子偏振应用的需求，采用单光子探测等新型技术，提出一种自动化测量多维目标对单光子偏振态影响的系统。 

整个偏振态检测系统的技术方案为： 

检测目标对偏振态影响的系统原理示意图如图1所示，它由高重频窄脉冲激光源1、衰减片2、分光棱镜3、透射式目标模块4、反射式目标模块5、检偏器及旋转电机组件6、第一单光子探测器7、一维电动平台8、第二单光子探测器9、单光子计数器10、电机控制器11和计算机12组成，其特征在于：由高重频窄脉冲激光源1出射的激光经由衰减片2将每脉冲能量衰减到单光子水 平，再经过分光棱镜3分成确定能量比的两路光信号：一路直接被第二单光子探测器9探测，再由单光子计数器10计数得到参考值；另一路光信号由目标材料的光传播方向特性决定采用透射式目标模块4，此时光信号先经过第一起偏器及旋转电机组件4.1再经过透射目标13；或者反射式目标模块5，此时光信号先经两块反射面与入射光线成45度的第一反射镜5.1和第二反射镜5.2反射，再在一块与目标表面平行的第三反射镜5.4表面发生反射，经过第二起偏器及旋转电机组件5.5起偏，最后在目标13表面发生反射；然后经过检偏器及旋转电机组件6检偏后，由第一单光子探测器7探测，再由单光子计数器10计数得到实际测量值。 

单光子光源的设计一直都是单光子应用的一个关键问题。量子点光源等真正的单光子源由于体积、性能、严格的应用条件等限制，并不在工程应用中被广泛采用。本系统设计中采用的源是实际应用中流行的准单光子源，即利用衰减片将高重频窄脉冲激光源出射的每脉冲能量衰减到单光子水平。 

在偏振态测量的过程中，采用双光路补偿法。通过分光棱镜将准单光子信号分成两路，一路用于实际的偏振态测量，另一路用于参考值测量；在数据处理时，将实际测量的结果除以参考值，得到相对测量的结果，从而降低准单光子源能量不稳定带来的影响。在检测过程中，软件处理中还可以采用多组测量、放弃最值、计算平均值的数据处理方式，将源能量稳定度的影响降到最低。