[实用新型]键盘间隙检验治具

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种键盘间隙检验治具。

背景技术

现有的键盘上的键帽之间的间隙无法用人眼目视出间隙大小，容易造成间隙不均的不良，导致产线良率降低，降低了生产效率和产品品质。

实用新型内容

本实用新型的目的是克服现有技术存在的缺陷，提供一种能检测出键盘上键帽之间间隙大小的键盘间隙检验治具。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：一种键盘间隙检验治具，包括板体，所述板体上设置有若干与所要检测的键盘上的键帽一一对应的通孔，所述通孔的各边均比与其对应的键帽的单边大0.2mm。

所述板体由硬质材料制成。

有益效果：将本实用新型套在键盘上，就可以看清楚键帽之间间隙大小，如无干涉现象，则证明此键盘为良品，使用简洁方便，且检测快速。

附图说明

下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明。

图1是本实用新型的优选实施例的结构示意图。

其中：1、板体；2、通孔。

具体实施方式

如图1所示的一种键盘间隙检验治具，包括板体1，所述板体1上设置有若干与所要检测的键盘上的键帽一一对应的通孔2，所述通孔2的各边均比与其对应的键帽的单边大0.2mm。

所述板体1由硬质材料制成。

应当理解，以上所描述的具体实施例仅用于解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。由本实用新型的精神所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本实用新型的保护范围之中。