[实用新型]基于介质阻挡放电模式原子发射光谱的硫检测器有效
申请号: | 201220011337.9 | 申请日: | 2012-01-11 |
公开(公告)号: | CN202486056U | 公开(公告)日: | 2012-10-10 |
发明(设计)人: | 黄军维;刘霁欣 | 申请(专利权)人: | 北京吉天仪器有限公司 |
主分类号: | G01N21/67 | 分类号: | G01N21/67;G01N30/74 |
代理公司: | 北京双收知识产权代理有限公司 11241 | 代理人: | 郭鸿雁 |
地址: | 100016 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 介质 阻挡 放电 模式 原子 发射光谱 检测器 | ||
1.一种基于介质阻挡放电模式原子发射光谱的硫检测器,其特征在于:包括电源、放电腔、电极、检测仪,放电腔由介质层制成,放电腔的内部为放电通道,放电通道为直线型,放电腔的左、右侧壁的外表面分别固定左、右电极,电源与左、右电极串联,放电腔的前端设置样品入口,检测仪设置在放电腔出口端的后侧,放电腔的外部设置绝缘层。
2.根据权利要求1所述的基于介质阻挡放电模式原子发射光谱的硫检测器,其特征在于:所述左、右电极以放电腔的中心线相对称,左、右电极之间的放电间距为0.5mm-5mm。
3.根据权利要求2所述的基于介质阻挡放电模式原子发射光谱的硫检测器,其特征在于:所述放电腔的介质层厚度为:0.1mm至5mm。
4.根据权利要求3所述的基于介质阻挡放电模式原子发射光谱的硫检测器,其特征在于:所述检测仪为滤光片和光电倍增管,滤光片设置在放电腔的出口处,滤光片的后端设置光电倍增管。
5.根据权利要求3所述的基于介质阻挡放电模式原子发射光谱的硫检测器,其特征在于:所述检测仪为光谱仪。
6.根据权利要求4或5所述的基于介质阻挡放电模式原子发射光谱的硫检测器,其特征在于:所述介质层采用氧化铝陶瓷,氧化锆陶瓷,氮化硼陶瓷,氮化铝陶瓷,石英或玻璃制成。
7.根据权利要求6所述的基于介质阻挡放电模式原子发射光谱的硫检测器,其特征在于:所述左、右电极是丝带状电极或涂覆膜电极。
8.根据权利要求7所述的基于介质阻挡放电模式原子发射光谱的硫检测器,其特征在于:所述丝带状电极是铝箔或铜箔电极,通过胶粘在放电腔的左、右侧壁上。
9.根据权利要求7所述的基于介质阻挡放电模式原子发射光谱的硫检测器,其特征在于:所述涂覆膜电极采用金水或银水涂覆在放电腔侧壁上,经过高温灼烧后形成电极。
10.根据权利要求8或9所述的基于介质阻挡放电模式原子发射光谱的硫检测器,其特征在于:所述放电腔的横截面为正方形或长方形,绝缘层的外表面为圆柱形。
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