[实用新型]基于介质阻挡放电模式原子发射光谱的硫检测器有效

专利信息
申请号: 201220011337.9 申请日: 2012-01-11
公开(公告)号: CN202486056U 公开(公告)日: 2012-10-10
发明(设计)人: 黄军维;刘霁欣 申请(专利权)人: 北京吉天仪器有限公司
主分类号: G01N21/67 分类号: G01N21/67;G01N30/74
代理公司: 北京双收知识产权代理有限公司 11241 代理人: 郭鸿雁
地址: 100016 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 基于 介质 阻挡 放电 模式 原子 发射光谱 检测器
【权利要求书】:

1.一种基于介质阻挡放电模式原子发射光谱的硫检测器,其特征在于:包括电源、放电腔、电极、检测仪,放电腔由介质层制成,放电腔的内部为放电通道,放电通道为直线型,放电腔的左、右侧壁的外表面分别固定左、右电极,电源与左、右电极串联,放电腔的前端设置样品入口,检测仪设置在放电腔出口端的后侧,放电腔的外部设置绝缘层。

2.根据权利要求1所述的基于介质阻挡放电模式原子发射光谱的硫检测器,其特征在于:所述左、右电极以放电腔的中心线相对称,左、右电极之间的放电间距为0.5mm-5mm。

3.根据权利要求2所述的基于介质阻挡放电模式原子发射光谱的硫检测器,其特征在于:所述放电腔的介质层厚度为:0.1mm至5mm。

4.根据权利要求3所述的基于介质阻挡放电模式原子发射光谱的硫检测器,其特征在于:所述检测仪为滤光片和光电倍增管,滤光片设置在放电腔的出口处,滤光片的后端设置光电倍增管。

5.根据权利要求3所述的基于介质阻挡放电模式原子发射光谱的硫检测器,其特征在于:所述检测仪为光谱仪。

6.根据权利要求4或5所述的基于介质阻挡放电模式原子发射光谱的硫检测器,其特征在于:所述介质层采用氧化铝陶瓷,氧化锆陶瓷,氮化硼陶瓷,氮化铝陶瓷,石英或玻璃制成。

7.根据权利要求6所述的基于介质阻挡放电模式原子发射光谱的硫检测器,其特征在于:所述左、右电极是丝带状电极或涂覆膜电极。

8.根据权利要求7所述的基于介质阻挡放电模式原子发射光谱的硫检测器,其特征在于:所述丝带状电极是铝箔或铜箔电极,通过胶粘在放电腔的左、右侧壁上。

9.根据权利要求7所述的基于介质阻挡放电模式原子发射光谱的硫检测器,其特征在于:所述涂覆膜电极采用金水或银水涂覆在放电腔侧壁上,经过高温灼烧后形成电极。

10.根据权利要求8或9所述的基于介质阻挡放电模式原子发射光谱的硫检测器,其特征在于:所述放电腔的横截面为正方形或长方形,绝缘层的外表面为圆柱形。

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