[实用新型]大功率低压变频器IGBT驱动电路有效
申请号: | 201220003151.9 | 申请日: | 2012-01-05 |
公开(公告)号: | CN202435255U | 公开(公告)日: | 2012-09-12 |
发明(设计)人: | 陈淑建;罗新 | 申请(专利权)人: | 浙江艾得森电气有限公司 |
主分类号: | H02M1/088 | 分类号: | H02M1/088 |
代理公司: | 温州金瓯专利事务所(普通合伙) 33237 | 代理人: | 王坚强 |
地址: | 325000 浙江省温*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 大功率 低压 变频器 igbt 驱动 电路 | ||
技术领域
本实用新型属于一种变频器IGBT驱动电路。
背景技术
现有的大功率低压变频器IGBT驱动电路采用并机方式,存在的技术缺陷:生产成本高、可靠性低。
发明内容
为了克服现有大功率IGBT的变频器的生产成本高、可靠性低的不足,本实用新型提供一种降低生产成本、提高可靠性的大功率低压变频器IGBT驱动电路。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:
一种大功率低压变频器IGBT驱动电路,包括IGBT驱动输出端OUT、正常IGBT驱动信号端IN1和关断延时的IGBT驱动信号端IN2,所述驱动电路包括第一CMOS管Q2、第二CMOS管Q3、第三CMOS管Q4和第四CMOS管Q6,所述驱动信号端IN2分别与第一CMOS管Q2、第二CMOS管Q3的栅极连接,第一CMOS管Q2的源极和第二CMOS管Q3的源极连接,第一CMOS管Q2的漏极与-8V电源连接,所述第二CMOS管Q3的漏极与第四CMOS管Q6的源极连接;所述驱动信号端IN1分别与第三CMOS管Q4和第四CMOS管Q6的栅极连接,所述第三CMOS管Q4的源极、第二CMOS管Q3的源极均与IGBT驱动输出端OUT连接,所述IGBT驱动输出端OUT通过电阻R9与-8V电源连接;所述第三CMOS管Q4的的漏极与+18V电源连接,所述第三CMOS管Q4的源极同时与二极管D1的阳极连接,所述二极管D1的阴极与+18V电源连接,所述二极管的阴极同时与电阻R7的一端连接,所述电阻R7的另一端同时与第二CMOS管Q3的漏极、第四CMOS管Q6的源极连接,所述第一电容C2和稳压二极管D2并联形成并联支路,所述第四CMOS管Q6的的漏极与并联支路的一端连接,所述并联支路的另一端接地,所述并联支路的另一端与第二电容C4的一端连接,所述第二电容C4的另一端与电阻R7的另一端连接。
本实用新型的有益效果主要表现在:降低生产成本、提高可靠性。
附图说明
图1是本实用新型电路原理图。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型作进一步描述。
参照图1,一种大功率低压变频器IGBT驱动电路,包括IGBT驱动输出端OUT、正常IGBT驱动信号端IN1和关断延时的IGBT驱动信号端IN2,所述驱动电路包括第一CMOS管Q2、第二CMOS管Q3、第三CMOS管Q4和第四CMOS管Q6,所述驱动信号端IN2分别与第一CMOS管Q2、第二CMOS管Q3的栅极连接,第一CMOS管Q2的源极和第二CMOS管Q3的源极连接,第一CMOS管Q2的漏极与-8V电源连接,所述第二CMOS管Q3的漏极与第四CMOS管Q6的源极连接;所述驱动信号端IN1分别与第三CMOS管Q4和第四CMOS管Q6的栅极连接,所述第三CMOS管Q4的源极、第二CMOS管Q3的源极均与IGBT驱动输出端OUT连接,所述IGBT驱动输出端OUT通过电阻R9与-8V电源连接;所述第三CMOS管Q4的的漏极与+18V电源连接,所述第三CMOS管Q4的源极同时与二极管D1的阳极连接,所述二极管D1的阴极与+18V电源连接,所述二极管的阴极同时与电阻R7的一端连接,所述电阻R7的另一端同时与第二CMOS管Q3的漏极、第四CMOS管Q6的源极连接,所述第一电容C2和稳压二极管D2并联形成并联支路,所述第四CMOS管Q6的的漏极与并联支路的一端连接,所述并联支路的另一端接地,所述并联支路的另一端与第二电容C4的一端连接,所述第二电容C4的另一端与电阻R7的另一端连接。
所示OUT为IGBT驱动输出端,IN1为正常IGBT驱动信号端,IN2为关断延时(OFFTdelay)、提前开通(ONTdelay)的IGBT驱动信号端。延时时间OFFTdelay和ONTdelay取决于IGBT规格型号及工作状态,当IGBT处于短路状态时Tdelay值可取至8us,使IGBT处于放大区工作以减小短路电流。
IGBT开通时Q3开通,Q6处于开通状态,且Q2、Q4处于关闭状态,把IGBT置于放大区工作,延时ONTdelay后,Q6关闭同时Q2开通使IGBT迅速进入饱和状态。IGBT关闭时Q4关闭,同时Q6开通,通过C2迅速箝位IGBT门极电位至放大区,可通过调整C2容值改变降压速率,OFFTdelay时段后Q2开通,将IGBT门极迅速箝位至负压关闭IGBT,完成双电平关断过程。
本实施例采用的保护措施为降栅压,降栅压旨在检测到器件过流时,马上降低栅压,但器件仍维持导通。降栅压后设有固定延时,故障电流在这一延时期内被限制在一较小值,则降低了故障时器件的功耗,延长了器件抗短路的时间,而且能够降低器件关断时的di/dt,对器件保护十分有利。若延时后故障信号依然存在,则关断器件,若故障信号消失,驱动电路可自动恢复正常的工作状态,因而大大增强了抗干扰能力。
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