[发明专利]一种NFC芯片中零功耗的精确场强检测方法和电路

权利要求书

1.一种NFC芯片中零功耗的精确场强检测电路，其特征在于：包括零功耗精确场强检测电路、电平转换电路、输出逻辑电路、微调控制逻辑、微调测试电路，其中：

零功耗精确场强检测电路通过来自于微调控制逻辑的信号对所处位置的场强大小进行检测；

输出逻辑电路中有下拉的状态保持电路，没有射频场、以及射频场未达到场强检测阈值的情况下，输出逻辑电路的输出信号为低电平；

电平转换电路将芯片电源下的信号转换为射频场整流电源下的控制信号；

微调测试电路在芯片测试阶段对零功耗精确场强检测电路的检测阈值进行测试，获取控制参数，并将参数存储于非挥发性存储器内，在芯片启动完成后，读取到微调控制逻辑的寄存器中，对零功耗精确场强检测电路进行精确微调；

微调控制逻辑输出对零功耗精确场强检测电路进行使能控制、参数微调。

2.如权利要求1所述的电路，其特征在于：当零功耗精确场强检测电路通过输出逻辑电路输出场强检测标志信号时，即标志着场强大小达到设定的检测阈值。

3.如权利要求1所述的电路，其特征在于零功耗精确场强检测电路在射频场整流电源下工作，当没有射频场存在时，不消耗芯片电源；当有射频场存在时，零功耗精确场强检测电路所耗电流来源于射频场整流电源，同样不会消耗芯片电源，实现零功耗检测场强。

4.如权利要求1所述的电路，其特征在于工作于芯片电源下的微调控制逻辑电路、微调测试电路在芯片工作期间没有静态功耗，仅存在逻辑电路的漏电功耗。

5.一种NFC芯片中零功耗的精确场强检测方法，应用于如权利要求1所述的电路中，其特征在于通过对零功耗精确场强检测电路进行参数微调来保证场强检测的阈值精确性，具体步骤如下：

(1)在芯片wafer测试阶段，通过微调测试电路得到场强检测控制参数，并将此场强检测控制参数存储于芯片非挥发性存储器中；

(2)在芯片上电完成后，芯片将非挥发性存储器中的场强检测控制参数读取到微调控制逻辑模块的寄存器中；

(3)通过电平转换电路对场强检测电路进行参数配置；

(4)微调控制逻辑电路输出使能控制信号通过电平转换电路对场强检测电路进行使能控制，在场强没有达到检测阈值时，场强检测电路通过输出逻辑电路输入芯片内部“低”电平，当场强达到检测阈值时，场强检测电路通过输出逻辑电路输入芯片内部“高”电平，对零功耗精确场强检测电路的检测精度进行微调。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于：场强检测电路的能量来自于射频场的整流电源，不消耗具有NFC芯片的便携设备的内部电源。

7.如权利要求5所述的方法，其特征在于：场强检测电路所需精确的检测参考值，来自于NFC芯片内部的参数控制寄存器。

8.如权利要求5所述的方法，其特征在于：场强检测电路所需精确的检测参考值，通过芯片中测阶段获取。