[发明专利]一种高温涂层超导基带用织构在线检测装置及检测方法无效
申请号: | 201210592608.9 | 申请日: | 2012-12-29 |
公开(公告)号: | CN103076349A | 公开(公告)日: | 2013-05-01 |
发明(设计)人: | 索红莉;王毅;孟易辰;马麟 | 申请(专利权)人: | 北京工业大学 |
主分类号: | G01N23/20 | 分类号: | G01N23/20 |
代理公司: | 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 | 代理人: | 张慧 |
地址: | 100124 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 高温 涂层 超导 基带 用织构 在线 检测 装置 方法 | ||
1.一种高温涂层超导基带用织构在线检测装置,包括收放带系统、X衍射仪、动力系统和工控机系统,其中X衍射仪包括X射线源、样品台配欧拉环、射线探测器,其特征在于,收放带系统包括收带轮、放带轮和导轮,收带轮和放带轮安装在X衍射仪的底座上,用于带材的导入和导出,基带由放带轮经导轮进入样品台中,动力系统包括伺服电机,动力系统中伺服电机与收带轮相连,工控机通过控制伺服电机从而带动收带轮收紧带材,由工控机控制提供走带牵引的动力。
2.利用权利要求的在线检测装置进行检测的方法,其特征在于,包括以下步骤:将动态退火后基带通过收放带系统置于X衍射仪(XRD)的样品台上,工控机系统调节走带速度1mm/s-100mm/s、步长1mm-5m和等待时间1s-600s,实现可视化操作,采用ω扫描测定基带(200)晶面的面外织构,织构采样频率为每隔1mm~5m采集一个信号对采集的面外织构信息作高斯拟合,得到摇摆曲线的半高宽,并以基带上的取样点位置为横坐标,摇摆曲线的半高宽值为纵坐标作图,由此得到长带整体的面外织构信息;同时检测θ或/和2θ的衍射峰强度,从而进行物相分析以及晶胞参数计算。
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