[发明专利]一种平面运动测量装置及方法有效
| 申请号: | 201210586818.7 | 申请日: | 2012-12-28 |
| 公开(公告)号: | CN103900478B | 公开(公告)日: | 2017-06-27 |
| 发明(设计)人: | 李新振;齐芊枫;梁德志;李进春 | 申请(专利权)人: | 上海微电子装备有限公司 |
| 主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
| 代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)31237 | 代理人: | 屈蘅,李时云 |
| 地址: | 201203 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 平面 运动 测量 装置 方法 | ||
1.一种平面运动测量装置,用于测量运动体在平面上X、Y及Rz方向的位移,其特征在于,包括三组一维光栅测量机构,其中两组一维光栅测量机构位于所述运动体的X方向上,另外一组一维光栅测量机构位于所述运动体的Y方向上,其中,每组一维光栅测量机构包括两组移动副以及一组转动副,所述两组移动副的移动方向垂直,所述转动副与其中一组移动副可旋转式连接。
2.如权利要求1所述的平面运动测量装置,其特征在于,所述每组一维光栅测量机构包括第一、第二、第三、第四、第五个构件以及光栅尺和读头,所述第一构件与第二构件组成转动副,所述第二构件与第三构件组成第一移动副,所述第三构件与第四构件固定连接,所述第四构件与第五构件组成第二移动副,所述第一移动副与第二移动副中的移动件的移动方向相互垂直。
3.如权利要求1所述的平面运动测量装置,其特征在于,所述每组一维光栅测量机构包括第一、第二、第三、第四、第五个构件以及光栅尺和读头,所述第一构件与第二构件固定连接,所述第二构件与第三构件组成第一移动副,所述第三构件与第四构件组成转动副,所述第四构件与第五构件组成第二移动副,所述第一移动副与第二移动副中的移动件的移动方向相互垂直。
4.如权利要求2或3所述的平面运动测量装置,其特征在于,所述光栅尺固定于所述第四构件上,所述读头固定于所述第五构件上。
5.如权利要求4所述的平面运动测量装置,其特征在于,所述读头上分别设有零位传感器。
6.一种平面运动测量方法,采用如权利要求1所述的平面运动测量装置,其特征在于,位于X方向的一维光栅测量机构测量X方向的位移,位于Y方向的一维光栅测量机构测量Y方向的位移,根据两个同方向上的位移差值以及正切关系式得到所述运动体在Rz方向旋转的角度。
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