[发明专利]基于电荷补偿的SAR 结构ADC 修调方法及修调电路

权利要求书

1.一种基于电荷补偿的SAR结构ADC修调电路，其特征在于：包含一个寄存器组、一个衰减电容和一个修调阵列，所述寄存器组包含多组寄存器，所述寄存器的数量和待修调的主电容阵列的开关个数一致；所述修调阵列包含多个2进制权重电容网络，所述电容网络的数量和待修调的主电容阵列的开关个数一致，所述修调阵列通过衰减电容耦合至待修调的主电容阵列；所述寄存器控制修调阵列中相应的电容开关的切换方向。

2.一种基于电荷补偿的SAR结构ADC修调方法，其特征在于：包括以下步骤：

步骤1初始化最高位开关对应的寄存器；SAR结构ADC中待修调的主电容阵列最高位开关（S11）闭合，将相应的比较电荷Q’注入待修调的主电容阵列,Q’=2^n-1C*Vin+ΔQ,其中：Vin为待转换的输入电压；n为待修调的主电容阵列对应开关的数量；C为待修调的主电容最低位对应的理想电容值；ΔQ=σC*Vin为误差电荷；σ为最高位开关对应电容的归一化偏差系数；

步骤2调整步骤：

步骤2.1通过主机接口向最高位开关对应的寄存器写入调试值，寄存器根据调试值产生相对应的调试电荷，并将调试电荷注入待修调的主阵列；

步骤2.2将调试电荷与误差电荷进行比较，根据比较结果通过主机接口改变寄存器的调试值，直至调试电荷与误差电荷相抵消；

步骤2.3将最终调试值固化在该寄存器中；

步骤3按照高位到低位的顺序，重复步骤1和步骤2直至最低位的最终调试值固化在寄存器中，完成修调。