[发明专利]一种钎焊层预淀积方法有效

专利信息
申请号: 201210576167.3 申请日: 2012-12-27
公开(公告)号: CN103264202A 公开(公告)日: 2013-08-28
发明(设计)人: 王斌;路波;宋振国;樊明国 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
主分类号: B23K1/20 分类号: B23K1/20;H01L21/60
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 266000 山东省*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 钎焊 层预淀积 方法
【权利要求书】:

1.一种钎焊层预淀积方法,其特征在于,包含以下步骤:

A:真空溅射镀膜种子层;

B:以金层和锡层依次交替电镀的方式沉积各层。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤A中,采用磁控溅射的方法,在电路介质基片上依次淀积粘附层和电镀种子层。

3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述电路介质基片为混合集成电路介质基片。

4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述步骤B中,金的密度为19.3g/cm3;锡的密度为7.31g/cm3。

5.如权利要求4所述的方法,其特征在于,所述步骤B中,金和锡的重量比是80.4∶19.6。

6.如权利要求5所述的方法,其特征在于,所述步骤B中,所述金层与锡层总厚度比为1.55∶1。

7.如权利要求6所述的方法,其特征在于,所述步骤B中,所述金层和锡层间隔电镀,每层1微米。

8.如权利要求7所述的方法,其特征在于,所述步骤B中,所述金层和锡层共计电镀9层。

9.如权利要求8所述的方法,其特征在于,所述步骤B中,所述第8层为锡层电镀0.9微米。

10.如权利要求9所述的方法,其特征在于,所述步骤B中,所述第9层为金层电镀2.1微米。

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