[发明专利]一种基于CT图像获取线性衰减系数分布的方法及装置

权利要求书

1.一种基于CT图像获取线性衰减系数分布的方法，其特征在于，包括：

利用计算机断层成像术CT设备扫描物体，生成所述物体的CT数据；

将所述CT数据代入用于获得线性衰减系数分布的函数，得到线性衰减系数分布。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述的函数为一连续分布函数。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述将所述CT数据代入用于获得线性衰减系数分布的函数，得到线性衰减系数分布，包括：

计算得到所述连续分布函数中携带的未知系数的数值；

代入所述未知系数的数值，得出所述连续分布函数的表达式；

将所述CT数据代入所述连续分布函数的表达式，得到线性衰减系数分布。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述计算得到所述未知系数的数值，包括：

选取多个密度不同的采样物质，对所述采样物质进行CT扫描，得到各个采样物质的CT数据；

获得所述采样物质在预设光子穿透能量下的线性衰减系数；

根据所述CT数据以及线性衰减系数，对所述连续分布函数进行拟合，得到所述未知系数的数值。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述获得所述采样物质在预设光子穿透能量下的线性衰减系数，包括：

通过XCOM查询获得所述采样物质在预设光子穿透能量下的线性衰减系数；或者，

通过与预设光子穿透能量同能量的发射源的长时间透射扫描所述采样物质，得到所述采样物质的线性衰减系数。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

根据所述线性衰减系数分布，计算衰减校正因子；

利用所述衰减校正因子，对PET或SPECT数据进行校正。

7.根据权利要求2-6中任一项所述的方法，其特征在于，所述连续分布函数具体为：

μx,511keV=(1+Σi=1Nai×xi)×μwater,511keV,]]>其中，x代表所述物体的CT值，μ_{water，511keV}为511keV能量下水的线性衰减系数，a_i，i＝1，...，N为所述未知参数，μ_x，511keV为所述物体在511keV能量下的线性衰减系数；或者，

μx,511keV=(1+Σi=1Nai×(exp(i×x/const)-1))×μwater,511keV,]]>其中，x代表所述物体的CT值，μ_{water，511keV}为511keV能量下水的线性衰减系数，a_i，i＝1，...，N为所述未知参数，μ_x，511keV为所述物体在511keV能量下的线性衰减系数，N＞3，const＞1000。