[发明专利]一种获得标准稀释比下X射线荧光强度的方法有效
| 申请号： | 201210574411.2 | 申请日： | 2012-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN103901066A | 公开（公告）日： | 2014-07-02 |
| 发明（设计）人： | 戴平;马振珠;刘玉兵;王彦君;赵鹰立;闫冉;韩蔚 | 申请（专利权）人： | 中国建材检验认证集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 北京鼎佳达知识产权代理事务所(普通合伙) 11348 | 代理人： | 王伟锋;刘铁生 |
| 地址： | 100024*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 获得 标准 稀释 射线 荧光 强度 方法 | ||
1.一种获得标准稀释比下X射线荧光强度的方法，其特征在于包括：
步骤1，将被测试样品制备为玻璃熔片,该玻璃熔片的稀释比为R；
步骤2，对上述制备的玻璃熔片进行X荧光强度测定，得到样品中某元素的X荧光强度值I；
步骤3，根据公式：，计算得到标准稀释比R0下的X荧光强度I0，其中αi,f为熔剂影响系数。
2.根据权利要求1所述的获得标准稀释比下X射线荧光强度的方法，其特征在于：所述的熔剂影响系数αi,f是通过以下步骤得到的，
步骤S1，用熔剂和被测试样品制备多个玻璃熔片，各玻璃熔片具有不同的稀释比R；
步骤S2，对上述各玻璃熔片进行X射线荧光强度测定，得到各个玻璃熔片中某元素i的X射线荧光强度I；
步骤S3，设上述被测试样品中元素i的浓度为Ci，用元素i的浓度Ci对I和RI过原点做二元回归分析，得到两个斜率记为斜率K1和斜率K2,则熔剂影响系数αi,f=K2/K1。
3.根据权利要求1或2所述的获得标准稀释比下X射线荧光强度的方法，其特征在于：步骤1中所述的稀释比R在3-10范围内。
4.根据权利要求1所述的获得标准稀释比下X射线荧光强度的方法，其特征在于，所述的被测试样品为水泥。
5.一种水泥样品的测量方法，其特征在于，其包括上述权利要求1-4任一项所述的获得标准稀释比下X射线荧光强度的方法。
6.权利要求1-4任一项所述的获得标准稀释比下X射线荧光强度的方法在测量水泥样品中的应用。
7.一种X射线荧光分析中熔剂影响系数的测定方法，其特征在于包括以下步骤：
步骤S1，用熔剂和被测试样品制备多个玻璃熔片，各玻璃熔片具有不同的稀释比R；
步骤S2，对上述各玻璃熔片进行X射线荧光强度测定，得到各个玻璃熔片中某元素i的X射线荧光强度I；
步骤S3，设上述被测试样品中元素i的浓度为Ci，用元素i的浓度Ci对I和RI过原点做二元回归分析，得到两个斜率记为斜率K1和斜率K2，则熔剂影响系数通过公式αi,f=K2/K1计算得到。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国建材检验认证集团股份有限公司，未经中国建材检验认证集团股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210574411.2/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：轴压下冻土的超声波波速测试方法
- 下一篇：防堵料导流挡板
