[发明专利]一种LED芯片结构及其制备方法在审
申请号: | 201210571983.5 | 申请日: | 2012-12-25 |
公开(公告)号: | CN103904180A | 公开(公告)日: | 2014-07-02 |
发明(设计)人: | 张戈 | 申请(专利权)人: | 比亚迪股份有限公司 |
主分类号: | H01L33/20 | 分类号: | H01L33/20;H01L33/46;H01L33/00 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 张大威 |
地址: | 518118 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 led 芯片 结构 及其 制备 方法 | ||
1.一种LED芯片结构,其特征在于,包括:
衬底;
形成在所述衬底之上的缓冲层;
形成在所述缓冲层之上的N型层;
形成在所述N型层之上的多量子阱层;
形成在所述多量子阱层之上的P型层;以及
形成在所述P型层之上的电流扩散层,
其中,所述P型层、多量子阱层以及N型层堆叠形成倒置棱台结构。
2.如权利要求1所述的LED芯片结构,其特征在于,所述倒置棱台结构的侧壁与所述倒置棱台的顶面的夹角为60-70°。
3.如权利要求2所述的LED芯片结构,其特征在于,所述倒置棱台结构的侧壁与所述倒置棱台的顶面的夹角为67°。
4.如权利要求1-3任一项所述的LED芯片结构,其特征在于,所述倒置棱台结构的侧壁设有第一布拉格反射层。
5.如权利要求4所述的LED芯片结构,其特征在于,还包括:位于所述N型层之上的N电极和位于所述电流扩散层之上的P电极。
6.如权利要求5所述的LED芯片结构,其特征在于,所述电流扩散层中位于所述P电极下方设有第二布拉格反射层。
7.如权利要求6所述的LED芯片结构的形成方法,其特征在于,所述布拉格反射层材料为SiO2/TiO2交替多层薄膜。
8.一种LED芯片结构的形成方法,其特征在于,包括:
提供衬底;
在所述衬底之上形成缓冲层;
在所述缓冲层之上形成N型层;
在所述N型层之上形成多量子阱层;
在所述多量子阱层之上形成P型层;
刻蚀所述P型层、多量子阱层以及N型层以使其堆叠形成倒置棱台结构;
在所述P型层之上形成电流扩散层。
9.如权利要求8所述的LED芯片结构的形成方法,其特征在于,所述倒置棱台结构的侧壁与所述倒置棱台的顶面的夹角为60-70°。
10.如权利要求9所述的LED芯片结构的形成方法,其特征在于,所述倒置棱台结构的侧壁与所述倒置棱台的顶面的夹角为67°。
11.如权利要求8-10所述的LED芯片结构的形成方法,其特征在于,还包括,在所述倒置棱台结构的侧壁形成第一布拉格反射层。
12.如权利要求11所述的LED芯片结构的形成方法,其特征在于,还包括:在所述N型层之上形成N电极,以及在所述电流扩散层之上形成P电极。
13.如权利要求12所述的LED芯片结构的形成方法,其特征在于,还包括,在所述电流扩散层中位于所述P电极下方的位置形成第二布拉格反射层。
14.如权利要求13所述的LED芯片结构的形成方法,其特征在于,所述布拉格反射层材料为SiO2/TiO2交替多层薄膜。
15.如权利要求8所述的LED芯片结构的形成方法,其特征在于,所述刻蚀所述P型层、多量子阱层以及N型层的第一区域以使堆叠形成倒置棱台结构包括:
在所述P型层之上形成金属Ni层,并在所述金属Ni层之上涂光刻胶;
湿法腐蚀所述金属Ni层以形成底表面积小于顶表面积的Ni保护层;
沿着所述Ni保护层侧壁方向,干法刻蚀所述P型层、多量子阱层以及N型层的第一区域;以及
去除所述Ni保护层。
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