[发明专利]一种奇数齿或花键大径的测量方法及测量设备无效

专利信息
申请号: 201210570651.5 申请日: 2012-12-25
公开(公告)号: CN103033115A 公开(公告)日: 2013-04-10
发明(设计)人: 吴海艳;王英惠 申请(专利权)人: 江苏森威集团飞达股份有限公司
主分类号: G01B5/08 分类号: G01B5/08
代理公司: 无锡互维知识产权代理有限公司 32236 代理人: 王爱伟
地址: 224100 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 奇数 花键 测量方法 测量 设备
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种用于测量待测量的奇数齿轮或花键大径的测量方法及其相应的测量设备。

背景技术

三坐标即三坐标测量机,是指在三维可测的空间范围内,能够根据测头系统返回的点数据,通过三坐标的软件系统计算各类几何形状、尺寸等测量能力的仪器,又称为三坐标测量仪或三坐标量床。

现在各行业中对奇数齿轮大径的测量,由于无法使用通用量具如游标卡尺、外径千分尺等进行测量,一般需采用三座标测量,而三座标需在专门的场所,且测量效率低、成本较高,从而直接影响了现场的生产。

发明内容

鉴于上述现有技术存在的问题,提出了本发明。

因此,本发明要解决的其中之一的技术问题是,如何对现有技术中测量奇数齿轮大径的方法进行改进,使其能够实现生产现场的快速测量。

为解决上述技术问题,本发明提供了如下技术方案:

一种奇数齿或花键大径的测量方法,按照如下的计算公式进行测量其大径,即h值的:

h=r*tgαcosα(tgα-tgα2);]]>

其中,r为奇数齿或花键外廓圆的半径,α为180°/Z,Z为奇数齿的齿数。

作为本发明所述奇数齿或花键大径的测量方法的一种优选方案,其中:测量h值必须满足以下两个基本条件:

1)测量时两曲面相接触点必须有公法线;

2)静态下测量时必须满足力学上的静平衡条件即力平衡和力矩平衡。

另外,本发明进一步要解决的技术问题是,如何利用奇数齿或花键大径的测量方法对现有测量工具进行改进的问题。

为解决上述技术问题,本发明提供了如下技术方案:一种依照奇数齿或花键大径的测量方法的测量设备,包括主尺部件以及测量部件,所述测量部件包括外测量端和内测量端,所述外测量端或内测量端设置为带有一定凹陷角度的测量端,所述一定凹陷角度为180°-360°/Z,其中,Z为奇数齿的齿数。

作为本发明所述测量设备一种优选方案,其中:所述主尺部件的刻度根据进行设定,其中,α为180°/Z,Z为奇数齿的齿数。

作为本发明所述测量设备的一种优选方案,其中:所述主尺部件为游标卡尺结构。

作为本发明所述测量设备的一种优选方案,其中:所述游标卡尺结构为数显卡尺结构。

作为本发明所述测量设备的一种优选方案,其中:所述主尺部件为外径千分尺结构。

作为本发明所述测量设备的一种优选方案,其中:所述外径千分尺结构为数显卡尺结构。

作为本发明所述测量设备一种优选方案,其中:所述主尺部件的螺距根据进行设定,其中,α为180°/Z,Z为奇数齿的齿数。

本发明是利用三角函数关系解决奇数齿或奇数花键的大径的直接测量的方法,利用此方法可以制造的游标卡尺结构,此游标卡尺中的刻度可以是标准刻度,也可以是表中1/Δ数值为刻度进行制造,从而可以直接进行测量,此游标卡尺结构可以是但不限于此结构,还可以是数显卡尺结构;利用此方法还可以制造外径千分尺结构,此外径千分尺中的螺距可以是标准螺距,也可以是表中1/Δ数值为螺距进行制造,从而可以直接进行测量,此外径千分尺结构可以是但不限于此结构,还可以是数显结构。本发明能够解决各种规格奇数齿轮、花键的大径在生产现场的快速测量的问题,具有生产成本低、方便快捷等优点,极其适于生产应用。

附图说明

图1是本发明所述测量方法的数据关系示意图。

图2是本发明所述测量设备的一个实施例的示意图。

图3是本发明所述测量设备的另一个实施例的示意图。

具体实施方式

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