[发明专利]采用三坐标测量仪拼接测量大口径非球面面形的方法有效
| 申请号: | 201210570644.5 | 申请日: | 2012-12-25 | 
| 公开(公告)号: | CN102980532A | 公开(公告)日: | 2013-03-20 | 
| 发明(设计)人: | 王孝坤 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 
| 主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24 | 
| 代理公司: | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人: | 陶尊新 | 
| 地址: | 130033 吉*** | 国省代码: | 吉林;22 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 采用 坐标 测量仪 拼接 测量 口径 球面 方法 | ||
1.采用三坐标测量仪拼接测量大口径非球面面形的方法,其特征是,该方法由以下步骤实现:
步骤一、对被检测大口径非球面的尺寸进行划分,获得多个子孔径;所述多个子孔径在三坐标测量仪的检测范围内,相邻子孔径有四分之一的区域为重叠区域;
步骤二、采用三坐标测量仪检测并采集子孔径区域的面形数据,并在该子孔径区域与相邻的另一个子孔径区域的重叠区域贴上三个靶标,采用三坐标测量仪测定三个靶标的数据;
步骤三、调整被检测大口径非球面的位置,使三坐标测量仪能够检测到另一个子孔径区域的面形数据;采用三坐标测量仪测定三个靶标的数据;移去三个靶标,三坐标测量仪获得另一个子孔径区域的面形数据;
步骤四、判断是否是最后一个子孔径,如果是,则执行步骤五;如果否,返回执行步骤二;
步骤五、采用迭代算法将步骤二和步骤三获得的子孔径区域的面形数据进行坐标变换,获得在相同基准面上的两个子孔径数据;
步骤六、判断步骤五获得的两个子孔径的重叠区域是否大于四分之一,如果否,则返回执行步骤三;如果是,则采用最小二乘法获得两个子孔径的拼接系数,最终实现对大口径非球面面形的检测。
2.根据权利要求1所述的采用三坐标测量仪拼接测量大口径非球面面形的方法,其特征在于,所述三个靶标为中心带十字线的圆形粘贴。
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