[发明专利]一种光模块测试中光纤自动耦合配对系统

说明书

技术领域

本发明涉及光纤通信领域，特别涉及一种光模块测试中光纤自动耦合配对系统。

背景技术

现有技术中对光模块测试时，为了提高测试效率将多个待测光模块安装在测试板上，位于测试板上的光模块通过多路光开关与各种光路测试仪器连接，测试主机与测试板连接，控制测试板对多个光模块进行测试。在测试前，操作人员通过光纤将多路光开关与多个光模块连接时需要准确找出哪一个光模块对应多路光开关的相应光通道，这样便于测试数据的准确记录存储。但人工去连接匹配待测光模块与多路光开关相应光通道，效率低，易出错，浪费时间、人力。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术中所存在的上述不足，提供一种提高测试效率的光模块测试中光纤自动耦合配对系统。

为了实现上述发明目的，本发明提供了以下技术方案：

一种光模块测试中光纤自动耦合配对系统，该系统包括测试主机、光节点ONU、多路光开关、测试控制板和安装在测试控制板上的多个光模块；所述多路光开关与多个光模块通过光纤连接，所述多路光开关的每个光通道对应一个光模块，所述测试控制板连接测试主机，所述测试主机与所述多路光开关连接，所述测试主机还通过光节点ONU与所述多路光开关连接。

其中，所述测试主机用于通过测试控制板读取各个光模块的唯一的序列号并将该序列号保存在测试主机的存储单元中，同时控制关闭多路光开关所有光通道，接着打开多路光开关的一个光通道，当打开的光通道对应的光模块发光时，会触发光节点ONU，测试主机接收到光节点ONU发来的触发信号后将保存在所述存储单元中的当前光模块的序列号与当前光通道号相匹配记录。 

所述测试控制板通过I2C总线连接测试主机。

所述多路光开关为程控多路光开关。所述光通道有32个。

与现有技术相比，本发明的有益效果：  

本发明的光模块测试中光纤自动耦合配对系统开始测试时，测试主机通过测试控制板读取各个光模块的唯一的序列号并将该序列号保存在测试主机的存储单元中，同时控制关闭多路光开关所有光通道，接着打开多路光开关的一个光通道，当打开的光通道对应的光模块发光时，会触发光节点ONU，测试主机接收到光节点ONU发来的触发信号后将保存在所述存储单元中的当前光模块的序列号与当前光通道号相匹配记录，使得操作人员通过光纤将多路光开关与多个光模块连接时可以随意连接，不需要人工进行光模块及其对应的多路光开关的光通道的匹配配对，节约了大量的人力和工位时间，使得测试效率大大提高。

附图说明：

图1是本发明测试系统框图。

图2是本发明方法流程图。

具体实施方式

下面结合试验例及具体实施方式对本发明作进一步的详细描述。但不应将此理解为本发明上述主题的范围仅限于以下的实施例，凡基于本发明内容所实现的技术均属于本发明的范围。

如图1所示，本发明的光模块测试中光纤自动耦合配对系统，该系统包括测试主机、光节点ONU、多路光开关、测试控制板和安装在测试控制板上的多个光模块；所述多路光开关与多个光模块通过光纤连接，所述多路光开关的每个光通道对应一个光模块，所述测试控制板连接测试主机，所述测试主机与所述多路光开关连接，所述测试主机还通过光节点ONU与所述多路光开关连接。

其中，所述测试主机用于通过测试控制板读取各个光模块的唯一的序列号并将该序列号保存在测试主机的存储单元中，同时控制关闭多路光开关所有光通道，接着打开多路光开关的一个光通道，当打开的光通道对应的光模块发光时，会触发光节点ONU，测试主机接收到光节点ONU发来的触发信号后将保存在所述存储单元中的当前光模块的序列号与当前光通道号相匹配记录。所述测试控制板通过I2C总线连接测试主机。所述多路光开关为程控多路光开关。所述光通道有32个。

测试主机通过I2C总线下发命令到测试控制板，扫描读取各个光模块的唯一的序列号并将读取到的所有光模块的序列号保存在测试主机的存储单元中。光模块的序列号在生产时就写入光模块内部寄存器中，每个光模块具有唯一的序列号。光模块安装在测试控制板上，测试控制板上有相应的控制电路、连接光模块的电路接口、光路接口和连接测试主机的总线接口（图未示），这些均为现有技术不再详述。