[发明专利]基于泰伯-莫尔技术的一体化长焦距测量装置有效
申请号: | 201210566110.5 | 申请日: | 2012-12-24 |
公开(公告)号: | CN103063413A | 公开(公告)日: | 2013-04-24 |
发明(设计)人: | 李建欣;何勇;陈好;陆衡;赵琦;樊红英;蒋泽伟;朱日宏;陈磊;高志山;王青;郭仁慧;沈华;马骏 | 申请(专利权)人: | 南京理工大学;西南技术物理研究所 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人: | 朱显国 |
地址: | 210094 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 莫尔 技术 一体化 焦距 测量 装置 | ||
1.一种基于泰伯-莫尔条纹技术的一体化长焦距测量装置,其特征在于包括激光器(1)、非球面准直物镜(2)、一面增透一面增反透镜(3)、平面反射镜(4)、半反半透镜(5)、第一光栅(6)、第二光栅(7)、第一散射板(8)、成像透镜(9)、第一CCD(10)、会聚透镜(11)、第二散射板(12)、第二CCD(13)和待测长焦距透镜(14);激光器(1)发出的光经过非球面准直物镜(2)后形成准直激光光束,入射到一面增透一面增反透镜(3)镀有增透膜的一面并完全透射,透射光经过待测长焦距透镜(14),被平面反射镜(4)反射回来再次经过待测长焦距透镜(14),入射到一面增透一面增反透镜(3)镀有增反膜的一面并被完全反射到半透半反透镜(5)上,出射光分成透射光束和反射光束两路:其中反射光束入射到第一光栅(6)、第二光栅(7),在第一散射板(8)上形成莫尔条纹,成像透镜(9)把散射板(8)上的莫尔条纹成像在第一CCD(10);透射光束入射到聚透镜(11),并会聚光斑到散射板(12)上,把散射板(12)上的光斑成像在第二CCD(13)。
2.根据权利要求1所述的基于泰伯-莫尔条纹技术的一体化长焦距测量装置,其特征在于所述的激光器(1)发出的光波为球面波,非球面准直物镜(2)采用双波长非球面单透镜,即在一块平凸透镜的基础上,根据消球差要求把平面修磨抛光成非球面。
3.一种基于权利要求1所述泰伯-莫尔条纹技术的一体化长焦距测量装置的测量方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤一:由激光器(1)产生一束激光光束,经非球面准直物镜(2)后出射准直激光光束,通过光阑调节光束的口径;
步骤二:待测长焦距透镜(14)未放入时,通过观察第二CCD(13)采集到的光斑图像,调整使系统光轴一致,然后将第一CCD(10)采集到的莫尔条纹L1输入到计算机;
步骤三:放入待测长焦距透镜(14),准直光束两次经过待测长焦距透镜(14),出射后的光束包含待测长焦距透镜(14)的焦距信息,通过第一CCD(10)采集包含焦距信息的莫尔条纹L2并输入到计算机;
步骤四:利用计算机求得莫尔条纹L1和莫尔条纹L2的夹角进而求得待测透镜的焦距f,计算公式为:
其中d为第一光栅(6)和第二光栅(7)间的距离,θ为第一光栅(6)的栅线与第二光栅(7)的栅线之间的夹角,S为待测长焦距透镜(14)到第一光栅(6)的距离。
4.根据权利要求3所述的基于泰伯-莫尔条纹技术的一体化长焦距测量装置的测量方法,其特征在于步骤二中所述的调整使系统光轴一致,具体为:通过观察第二CCD(13)采集到的光斑图像,判断光斑是否在图像十字中心,若在图像十字中心则系统光轴一致性良好;若不在图像十字中心,则调整平面反射镜(4)的角度,调整范围-10°~10°,保证光斑在图像十字中心。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京理工大学;西南技术物理研究所,未经南京理工大学;西南技术物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210566110.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。