[发明专利]用于振荡器频率校准的方法和装置

说明书

技术领域

本描述涉及振荡器校准的方法及装置。

背景技术

使用半导体加工工艺制造的已知振荡器可以具有频率输出，该频率输出是阻容(RC)网络中的电阻器和电容器的功能。半导体加工变化可导致振荡器的频率输出会有相对大的差异。因为振荡器的频率可能改变，所以振荡器可包括可用于将振荡器的频率校准到参考频率的电路。该工艺可以被称为修调振荡器。在某些情况下，修调振荡器可以通过用于耦合不同电阻器和/或电容器网络以改变振荡器频率的数字位元实现。

校准或修调振荡器的频率可以利用各种已知的方法进行，这些方法包括直接反复测量目标振荡器输出的频率并将该测量换算成校正因子，对分别与目标振荡器的频率和参考振荡器的频率相关的计数器值进行比较等。使用已知振荡器校准工艺效率较低，例如在晶圆测试或最终测试中可能花费相对多的测试时间，当以硬件实现时可能占据器件管芯区很大一部分，和/或诸如此类的问题。因此，需要解决本技术的不足并提供其他新的和创新特点的系统、方法及装置。

发明内容

在一个总体方面，一种装置可包括相位频率检测器，所述相位频率检测器被配置用于产生目标振荡器信号的频率和参考振荡器信号的频率之间的相对差的多个指示。所述装置还可包括脉冲发生器，所述脉冲发生器配置用于基于多个指示产生多个脉冲。多个脉冲可包括配置用于触发目标振荡器信号的频率增加的第一部分，且多个脉冲包括配置用于触发目标振荡器信号的频率降低的第二部分。

在附图和下列描述中阐述了一种或多个实施方案的细节。根据描述和附图以及权利要求，其他特点将变得显而易见。

附图说明

图1为示出了根据实施方式的频率校准器件的框图。

图2A至图2D为示出了根据实施方式的频率校准器件产生的一个降低脉冲的图。

图3A至图3D为示出了根据实施方式的频率校准器件产生的一个增加脉冲的图。

图4A至图4D为示出了根据实施方式的频率校准器件产生的若干增加脉冲的图。

图5A至图5D为示出了根据实施方式的频率校准器件产生的若干降低脉冲的图。

图6为示出了目标振荡器产生的目标振荡器信号校准方法的流程图。

图7示出了根据实施方式的与目标振荡器信号相关联的频率位元值。

图8A为示出了目标振荡器信号的频率的图。

图8B为示出了配置用于触发图8A中所示的目标振荡器信号的频率变化的脉冲的图。

图9为示出了根据实施方式的频率校准器件的实例的示意图。

图10A至图10I为示出了频率校准器件的操作的图。

图11A至图11J为示出了基于目标振荡器信号的一个频率的频率校准器件的操作的图。

图12A至图12J为示出了基于目标振荡器信号的另一频率的频率校准器件的操作的图。

图13A至图13J为示出了基于目标振荡器信号的又一频率的频率校准器件的操作的图。

图14A至图14J为示出了由频率校准器件触发的目标振荡器信号的频率负跃变的特写图的图。

具体实施方式

图1为示出了根据实施方式的频率校准器件100的框图。如图1所示，频率校准器件100包括配置用于依靠参考振荡器115校准的目标振荡器110。具体地说，目标振荡器110产生的目标振荡器信号10的频率配置用于参照参考振荡器115产生的参考振荡器信号12的频率进行校准。目标振荡器110可以被称为目标振荡器，因为该振荡器是校准目标。在某些实施方式中，目标振荡器信号10可以被称为目标时钟信号，参考振荡器信号12可以被称为参考时钟信号。在某些实施方式中，目标振荡器信号10的振幅和参考振荡器信号12的振幅可以相同或可以不同。

频率校准器件100的组件(例如，相位频率检测器120、脉冲发生器130、计数器140)可以配置用于限定校准回路，该校准回路被配置用于将由目标振荡器110产生的目标振荡器信号10的频率校准至由参考振荡器115产生的参考振荡器信号12的频率。换句话说，频率校准器件100的组件可限定反馈回路，该反馈回路可用于将目标振荡器信号10的频率校准至参考振荡器信号12的频率。