[发明专利]测试座

说明书

本申请是申请人约翰国际有限公司于2006年7月10日提交的申请号为200610121259.7、题为“测试座”的发明专利申请的分案申请。

相关申请的交叉引用

这是依据35U.S.C§111(a)申请的正规申请，其依据35U.S.C§119(e)(1)要求依据35U.S.C§111(b)于2005年7月8日在前申请的临时申请No.60/697,693的优先权。

这是进一步依据35U.S.C§(a)申请的正规申请，其依据35U.S.C§119(e)(1)要求于2006年2月24日在前申请的临时申请No.60/776,654的优先权。

这是进一步依据35U.S.C§(a)申请的正规申请，其依据35U.S.C§119(e)(1)要求于2005年7月8日在前申请的临时申请No.60/697,721的优先权。

技术领域

本发明涉及电子元件测试技术。然而更特别地是，本发明详细涉及应用接触件测试电子元件的测试座。测试座包括接触件，该接触件互连被测试的电子元件的导线或焊盘（pad）和负载板上的相应迹线，并在被测试的电子元件的导线或焊盘和负载板上的相应迹线之间提供电子路径。本发明关注于通过测试座的相应接触件控制和校准施加到装置导线或焊盘以及负载板迹线上的力。

背景技术

集成电路装置测试是一种观察了多年的工序，为的是使电子装置尽可能获得高等级的质量控制。测试器典型地包括形成在与测试器设备关联的负载板上的多条导电迹线。必须将有导线装置的导线或无导线装置的焊盘互连到负载板上的相应迹线，以便完成测试。为了实现互连，将具有多个接触件的测试座插入被测装置和负载板之间。一个接触件的前端将被测装置的导线或焊盘与负载板上的其相应迹线接合。

这些年来，根据测试座、负载板的结构，以及测试装置的构造，已经改进了这种接触件的形状和结构。以前，人们认为在接触件端接合的不同位置必须具有接帚滑触（wiping）动作，以提供良好的传输路径。然而，随着技术进步，显然需要较少的接帚滑触动作，以维持比以前认为的更好的传输路径。而且，显然过多的接帚滑触动作会损害位于不同接合点处的元件部分，并且显著缩短测试座和测试器负载板的寿命。因此，已经进行了不同的尝试以使一个表面相对于另一个表面的磨损最小化。然而，本领域的当前技术水平不能限定一种足以使测试座的效率最大化和使元件部分的磨损以及进一步恶化最小化的结构。

本发明针对现有技术的这些问题和要求。其优点将参照发明内容、具体实施方式、所附的权利要求以及附图而变得更加显而易见。

发明内容

本发明是一种改进的测试座。其包括具有第一表面的壳体，将该第一表面设置成与测试器负载板的表面接合。壳体具有通常与该壳体的第一表面平行并间隔开的第二表面。壳体的第二表面面向与第一表面面向的方向相反的方向。在该壳体中形成至少一个槽，该槽通过壳体在其第一和第二表面之间延伸。将接触件容纳在相应的槽中。这种接触件具有前端，该前端通常延伸出该壳体的第二表面，以便与测试装置的相应导线或焊盘接合。接触件进一步具有限定弓形表面的后端，该弓形表面与形成在测试器负载板的表面上的相应迹线接合。将接触件弹性地安装在其槽中，这样，当接触件的前端与被测装置的导线或焊盘接合、并且推进到其槽中时，该接触件的弓形表面在实际上没有平移或旋转滑动的情况下在该测试器负载板的表面上横跨其相应迹线滚动。由此，实质上消除了接触件和负载板之间的磨损。

可以想象，接触件的后端除了限定与负载板接合的弓形表面之外，还限定了渐成弧形的表面，该逐渐成弧形的表面与其弓形表面成角度地间隔。在本实施方式中，壳体限定了槽内的壁。该壁与该接触件的后端的渐成弧形的表面接合，并且该渐成弧形的表面与该壁之间的空间关系使得当接触件的前端与测试装置的导线或焊盘接合，并且推进到相应的槽中时，该逐渐成弧形的表面沿壁移动，并且使该接触件的弓形表面横跨其相应迹线滚动。可以想象，由壳体限定的壁相对于壳体的第一表面以锐角成角度地间隔。这能够实现接触件的弓形表面在实际上没有平移或旋转滑动的情况下横跨测试器负载板的迹线滚动。

本发明的优选实施方式包括一对垂直横跨槽的弹性体，以便影响接触件的弹性安装。将前弹性体定位在测试器负载板的表面和接触件之间的通道内。鉴于由壳体限定的肩部可用于接合接触件、并限定它们延伸出壳体第二表面的距离的事实，将前弹性体预压缩。由此，通过接触件和负载板夹持其间的前弹性体完成预压缩。当前弹性体与被测装置的导线或焊盘接合时，它们进一步被接触件压缩，并推进到它们各自的槽中。