[发明专利]磁体电学中心定位方法

权利要求书

1.一种磁体电学中心定位方法，其特征在于，包括如下步骤：

S10)测量以磁体几何中心O为球心、R₀为半径的第一球面上n个点的磁场强度值B_n；

S11)将所述磁场强度值B_n、所述第一球面上n个点在以磁体几何中心O为原点的坐标系中的值代入公式计算出谐函数系数A_lm及B_lm；

S12)距离磁体几何中心O预定范围内，沿X轴、Y轴或Z轴选取点O₁，将以所述点O₁为球心、R₁为半径的第二球面上的n个点在以磁体几何中心O为原点的坐标系中的值所述第二球面上多个点距离磁体几何中心O的距离r_n以及所述谐函数系数A_lm及B_lm代入公式计算出所述第二球面上n个点的磁场强度B'_n；

S13)将所述磁场强度B'_n、所述第二球面上n个点在以点O₁为原点的坐标系中的值代入公式计算出谐函数系数A′_lm及B′_lm；

S14)从所述谐函数系数A′_lm或B′_lm中选取特征项，判断所述特征项是否位于阈值范围内；

S15)若是，则所述点O₁即为磁体电学中心，若否，重新执行步骤S12～S14。

2.如权利要求1所述的磁体电学中心定位方法，其特征在于，所述步骤S11之后还包括：

S16)从所述谐函数系数A_lm或B_lm中选取特征项，判断所述特征项是否位于阈值范围内；

S17)若是，则所述磁体几何中心O即为磁体电学中心，若否，则执行步骤S12。

3.如权利要求1所述的磁体电学中心定位方法，其特征在于，步骤S12)所述距离磁体几何中心O预定范围为±10mm之内。

4.如权利要求1所述的磁体电学中心定位方法，其特征在于，若选取Z轴方向上的点，则所述特征项为A′_13,0、A′_15,0或A′_17,0。

5.如权利要求1所述的磁体电学中心定位方法，其特征在于，若选取X轴方向上的点，则所述特征项为A′_13,1、A′_15,1或A′_17,1。

6.如权利要求1所述的磁体电学中心定位方法，其特征在于，若选取Y轴方向上的点，则所述特征项为B′_13,1、B′_15,1或B′_17,1。

7.如权利要求4-6任一项所述的磁体电学中心定位方法，其特征在于，所述阈值范围为±5.00E-07之内。

8.如权利要求7所述的磁体电学中心定位方法，其特征在于，所述R₀与R₁的差值绝对值要大于所述磁体几何中心O以及选取的点O₁之间的距离L₁。

9.如权利要求1所述的磁体电学中心定位方法，其特征在于，所述第一球面上n个点的数量与所述第二球面上n个点的数量均为480。

10.如权利要求1所述的磁体电学中心定位方法，其特征在于，所述第一球面上点的数量不等于所述第二球面上点的数量。