[发明专利]C型臂半精确滤波反投影断层成像方法有效
申请号: | 201210558657.0 | 申请日: | 2012-12-20 |
公开(公告)号: | CN102973291A | 公开(公告)日: | 2013-03-20 |
发明(设计)人: | 王瑜;李迅波;陈亮;王成栋;汪忠来;梁巍;黄建龙 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | A61B6/02 | 分类号: | A61B6/02 |
代理公司: | 成都科海专利事务有限责任公司 51202 | 代理人: | 邓继轩 |
地址: | 611731 四川省成都市高新区*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 型臂半 精确 滤波 投影 断层 成像 方法 | ||
1.一种C型臂半精确滤波反投影断层成像方法,其特征在于成像方法的步骤包括:检测器(4)上的阵元(5)接受X射线源(2)发射的X射线(3)衰减信号;X射线源(2)和检测器(4)绕水平轴线(9)旋转,数据采集系统(11)将阵元(5)获取的X射线(3)衰减信号转换为锥束投影数据;图像重建系统(15)接收锥束投影数据,输入锥束投影数据预处理模块(20)进行预处理;预处理后的投影数据并行输入到偏导数模块Ⅰ(21)、偏导数模块Ⅱ(22)和偏导数模块Ⅲ(23)计算关于不同参数的偏导数;偏导加权模块(24)并行接收相应的偏导数据,进行加权求和,获得投影数据的偏导数g'(λ,u,v);投影数据的偏导数并行输入到滤波模块Ⅰ(25)、滤波模块Ⅱ(26)和滤波模块Ⅲ(27)分别计算沿三类滤波线的滤波;滤波加权反投影模块(28)并行接收三类滤波数据,进行权重求和,产生反投影数据,再进行沿圆弧轨迹的反投影操作,获得断层图像(29)。
2.根据权利要求1所述C型臂半精确滤波反投影断层成像方法,其特征在于所述数据采集系统(11)是把检测器阵元接收的X射线模拟信号转换为数字信号,进而转化成锥束投影数据。
3.根据权利要求1所述C型臂半精确滤波反投影断层成像方法,其特征在于所述射源发射X射线(3),并绕水平轴线旋转,产生圆弧扫描轨迹,包括短扫描和超短扫描轨迹。
4.根据权利要求1所述C型臂半精确滤波反投影断层成像方法,其特征在于所述检测器(4)是指二维平板检测器,由若干个阵元组成,每个阵元可感光X射线。
5.根据权利要求1所述的C型臂半精确滤波反投影断层成像方法,其特征在于所述的沿三类滤波线是指:与圆弧轨迹相切的临界面与检测器平面的交线;过圆弧起始或终止端点的临界面与检测器平面的交线。
6.根据权利要求1所述的C型臂半精确滤波反投影断层成像方法,其特征在于所述的沿三类滤波线的滤波是指:偏导数据沿与圆弧轨迹相切的临界面与检测器平面的交线进行的希尔伯特滤波;偏导数据沿过圆弧起始端点的临界面与检测器平面的交线进行的希尔伯特滤波;偏导数据沿过圆弧终止端点的临界面与检测器平面的交线进行的希尔伯特滤波。
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