[发明专利]带隙基准电路有效
| 申请号: | 201210556679.3 | 申请日: | 2012-12-20 |
| 公开(公告)号: | CN103076830A | 公开(公告)日: | 2013-05-01 |
| 发明(设计)人: | 徐光磊 | 申请(专利权)人: | 上海宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号: | G05F1/56 | 分类号: | G05F1/56 |
| 代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 骆苏华 |
| 地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 基准 电路 | ||
1.一种带隙基准电路,其特征在于,包括:
基准电路,所述基准电路包括两个双极型晶体管,用于根据两个双极型晶体管基极-发射极电压的差值产生具有正温度系数的第一基准电压;
偏置电路,用于为所述基准电路提供偏置电流,所述偏置电路包括第一PMOS晶体管、第二PMOS晶体管、第一NMOS晶体管、第二NOMS晶体管和第三NMOS晶体管,所述第一PMOS晶体管的源极和所述第二PMOS晶体管的源极连接电源,所述第一PMOS晶体管的栅极连接所述第二PMOS晶体管的栅极和漏极,所述第一PMOS晶体管的漏极连接第一NMOS晶体管的漏极、第三NMOS晶体管的栅极、第一NMOS晶体管的栅极和第二NMOS晶体管的栅极,所述第三NMOS晶体管的漏极连接所述第二PMOS晶体管的漏极,所述第三NMOS晶体管的源极连接所述第二NMOS晶体管的漏极,所述第一NMOS晶体管的源极和所述第二NMOS晶体管的源极连接所述基准电路;
加和电路,用于产生具有负温度系数的第二基准电压,并将所述第二基准电压和所述第一基准电压相加产生带隙基准电压。
2.如权利要求1所述的带隙基准电路,其特征在于,所述第三NMOS晶体管的阈值电压在负100毫伏到正300毫伏之间。
3.如权利要求1所述的带隙基准电路,其特征在于,所述基准电路包括第一PNP晶体管、第一电阻和第二PNP晶体管,
所述第一PNP晶体管的发射极连接所述第一NMOS晶体管的源极,所述第一PNP晶体管的基极和集电极接地;
所述第一电阻的第一端连接所述第二NMOS晶体管的源极,所述第一电阻的第二端连接所述第二PNP晶体管的发射极;
所述第二PNP晶体管的基极和集电极接地。
4.如权利要求3所述的带隙基准电路,其特征在于,所述加和电路包括第三PMOS晶体管、第二电阻和第三PNP晶体管,
所述第三PMOS晶体管的源极接电源,所述第三PMOS晶体管的栅极连接所述第一PMOS晶体管的栅极、所述第二PMOS晶体管的栅极和所述第二PMOS晶体管的漏极,所述第三PMOS晶体管的漏极连接所述第二电阻的第一端;
所述第三PNP晶体管的发射极连接所述第二电阻的第二端,所述第三PNP晶体管的基极和集电极接地;
所述第三PMOS晶体管的漏极和所述第二电阻的第一端输出所述带隙基准电压。
5.如权利要求4所述的带隙基准电路,其特征在于,所述第一PNP晶体管的个数为1,所述第二PNP晶体管的个数为4,所述第三PNP晶体管的个数为4。
6.如权利要求1所述的带隙基准电路,其特征在于,所述基准电路包括第一NPN晶体管、第一电阻和第二NPN晶体管,
所述第一NPN晶体管的基极和集电极连接所述第一NMOS晶体管的源极,所述第一NPN晶体管的发射极连接地;
所述第一电阻的第一端连接所述第二NMOS晶体管的源极,所述第一电阻的第二端连接所述第二NPN晶体管的基极和发射极;
所述第二NPN晶体管的发射极接地。
7.如权利要求6所述的带隙基准电路,其特征在于,所述加和电路包括第三PMOS晶体管、第二电阻和第三NPN晶体管,
所述第三PMOS晶体管的源极接电源,所述第三PMOS晶体管的栅极连接所述第一PMOS晶体管的栅极、所述第二PMOS晶体管的栅极和所述第二PMOS晶体管的漏极,所述第三PMOS晶体管的漏极连接所述第二电阻的第一端;
所述第三NPN晶体管的基极和集电极连接所述第二电阻的第二段,所述第三NPN晶体管的发射极接地;
所述第三PMOS晶体管的漏极和所述第二电阻的第一端输出所述带隙基准电压。
8.如权利要求7所述的带隙基准电路,其特征在于,所述第一NPN晶体管的个数为1,所述第二NPN晶体管的个数为4,所述第三NPN晶体管的个数为4。
9.如权利要求1所述的带隙基准电路,其特征在于,所述电源的电压范围为1.8伏特~6伏特。
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