[发明专利]一种滑动式多层磁感应断层成像装置及方法有效
| 申请号: | 201210553187.9 | 申请日: | 2012-12-19 |
| 公开(公告)号: | CN103033847A | 公开(公告)日: | 2013-04-10 |
| 发明(设计)人: | 董秀珍;刘锐岗;付峰;尤富生;史学涛;季振宇;王雷;杨滨;徐灿华;代萌;王楠 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军第四军医大学 |
| 主分类号: | G01V3/10 | 分类号: | G01V3/10 |
| 代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 汪人和 |
| 地址: | 710032 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 滑动 多层 感应 断层 成像 装置 方法 | ||
1.一种滑动式多层磁感应断层成像装置,其特征在于,包括平板,被测对象置于平板上,激励测量线圈阵列包绕被测对象及平板,激励测量线圈阵列的各线圈中心共面;
激励测量线圈阵列与平板之间能够相对运动,激励测量模块与激励测量线圈阵列相连接,激励测量模块将检测数据发送给控制单元;
当激励测量线圈阵列对被测对象的某一断层完成一次磁感应断层成像数据采集,控制单元通过成像算法重建被测对象在该断层内的电导率分布图像并发送给显示器进行显示;然后激励测量线圈阵列相对平板运动,进行被测对象下一断层的磁感应断层成像数据采集,控制单元生成下一断层的电导率分布图像,并进行多层图像显示。
2.如权利要求1所述的滑动式多层磁感应断层成像装置,其特征在于,所述的激励测量线圈阵列或平板设置在滑轨上,由电机驱动其在滑轨上运动。
3.如权利要求1所述的滑动式多层磁感应断层成像装置,其特征在于,所述的激励测量线圈阵列和平板分别设置在不同的滑轨上,由控制单元发出指令给后滑轨控制模块,再由滑轨控制模块通过电机驱动其在各自的滑轨上运动。
4.如权利要求1所述的滑动式多层磁感应断层成像装置,其特征在于,所述的激励测量线圈阵列的线圈中心共面与平板垂直或呈一定的倾角。
5.如权利要求4所述的滑动式多层磁感应断层成像装置,其特征在于,激励测量线圈阵列的线圈中心共面与平板的倾角通过两者相交线为轴进行调节。
6.如权利要求1所述的滑动式多层磁感应断层成像装置,其特征在于,所述的激励测量线圈阵列与平板之间的相对运动包括:
A:激励测量线圈阵列固定不动,平板往返滑动;
B:平板固定不动,激励测量线圈阵列往返滑动;
C:激励测量线圈阵列和平板均可以往返滑动。
7.如权利要求1所述的滑动式多层磁感应断层成像装置,其特征在于,激励测量线圈阵列与平板之间的相对运动的距离通过控制单元来设定。
8.如权利要求1所述的滑动式多层磁感应断层成像装置,其特征在于,激励测量线圈阵列包绕被测对象及平板的方式包括:
A:激励测量线圈的中心点呈圆形排列;
B:激励测量线圈的中心点呈椭圆形排列;
C:激励测量线圈的中心点根据被测对象的外部轮廓线排列。
9.一种滑动式多层磁感应断层成像方法,其特征在于,包括以下步骤:
1)被测对象置于平板上,激励测量线圈阵列包绕被测对象及平板,平板和激励测量线圈分别设置在滑轨上,控制单元向滑轨控制模块发出控制指令,分别通过两个电机驱动平板滑轨和线圈滑轨,使激励测量线圈阵列对应于被测对象的某一个断层,然后两者保持相对静止;
2)控制单元向激励测量模块发出控制指令,选通某个激励测量线圈产生同频交变磁场,被测对象因导电性而感应出同频交变涡流,此交变涡流与被测对象内的电导率分布直接相关,通过激励测量线圈阵列中的测量线圈测量感应出的交变涡流信号,并将交变涡流信号经过AD转换后发送给控制单元;遍历激励测量线圈阵列后,完成当前断层的磁感应断层成像数据采集;
3)控制单元应用磁感应断层成像算法,根据当前断层测量数据,重建被测对象当前断层的电导率分布图像,得到一次单层磁感应断层成像;
4)重复1)到3)的过程,依次获得不同被测对象断层的电导率分布图像,然后以序列图像的方式显示出来。
10.如权利要求9所述的滑动式多层磁感应断层成像方法,其特征在于,所述的控制单元应用磁感应断层成像算法为牛顿迭代算法或单步牛顿算法。
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