[发明专利]线圈测试装置、磁共振系统及其输出校正方法和装置

说明书

技术领域

本发明涉及磁共振成像技术领域，特别涉及一种线圈测试装置、磁共振系统及其输出校正方法和装置。

背景技术

磁共振成像(MRI，Magnetic Resonance Imaging)作为核磁共振应用的重要领域，由于其对人体软组织有极好的分辨力、成像参数能提供丰富的诊断信息、对人体没有电离辐射损伤等诸多优点，磁共振成像系统已成为医学临床诊断的主要工具之一。作为磁共振系统中接收信号的核心部件，射频线圈在直接接触人体使用前，需要利用线圈测试装置对线圈进行包括诸如传输特性、线圈类型等性能测试，确保经过性能测试后的线圈正常使用。

在利用线圈测试装置对线圈进行测试或利用线圈对人体进行测试时，需要测量线圈测试装置或磁共振系统输出的多路电流和电压，将测量到的电流值和电压值作为判断线圈状态是否正常的标准之一。由于元器件差异的存在，得到的电流和电压的测量值和实际值之间会存在一定差异，为了消除此种由元器件差异对电路测量结果带来的不利影响，需要对线圈测试装置的输出进行校正，即对线圈测试装置或磁共振系统输出的电流和电压进行校正。

现有技术中，对线圈测试装置的输出校正方法为：测量建立校正函数所需要的参数；将所述参数写入代码中；利用写入代码的参数建立校正函数；在实际测量输出的电流和电压时，调用校正函数，得到线圈测试装置输出端口的参数值。以校正线圈测试装置输出的电流为例，首先，在需要校正的线圈测试装置的输出端口接入负载电阻和电流表，参考图1所示，串联的负载电阻11和电流表12一端接需要校正的输出端口，另一端接地。读出此状态下电流表12的电流值，此电流值为校正参考电流值i₀，并得到校正参考电流值i₀经过电流/电压转换和模数转换后对应的校正采样数据I₀。将校正参考电流值i₀和校正采样数据I₀写入代码中，并建立校正函数：i_x：i₀＝I_x：I₀，其中，i_x表示输出端口的电流值，I_x表示输出端口的电流值i_x对应的采样数据。对此路输出端口的电流进行测量时，得到输出端口的电流值i_x对应的采样值I_x，通过调用校正函数：i_x：i₀＝I_x：I₀，便可以得到输出端口的电流值i_x。

然而，利用上述方法对线圈测试装置的输出进行校正具有以下缺点：在实际校正中发现，利用上述方法对电流校正后得到的测量值准确度较低，由于元器件差异对电路测量结果仍会产生较大影响；线圈测试装置有多路电流和电压输出，对每一路的测量都要分别重复上述步骤，校正效率较低；对每一路的测量，需要将校正参考电流值i₀和校正采样数据I₀写入代码中，因此，需要将代码公开，降低了需要保密的代码的安全性。

更多关于磁共振系统中数据校正方法的技术方案可以参考申请号为200910254204.7、发明名称为用于确定失真校正数据的方法和装置的中国专利申请文件。

发明内容

本发明解决的是对线圈测试装置的输出校正产生的校正结果准确度低、校正依赖于代码和校正效率低的问题。

为解决上述问题，本发明提供了一种线圈测试装置的输出校正方法，所述线圈测试装置的输出校正方法包括：在线圈测试装置的输出端口未接入负载时，对所述输出端口的信号进行采样，得到第一校正数据；在所述输出端口接入可调负载和测量仪表；调整所述可调负载，使所述测量仪表的读数为预定值，对所述输出端口的信号进行采样，得到第二校正数据；建立所述输出端口对应的校正函数：a_x*(A₁-A₀)＝(A_x-A₀)*N，其中，a_x表示所述输出端口的信号的参数值，A_x表示所述输出端口的信号对应的采样数据，A₀表示所述第一校正数据，A₁表示所述第二校正数据，N表示所述预定值；在实际测量时，对所述输出端口的信号进行采样，得到所述输出端口的信号对应的采样数据；调用所述输出端口对应的校正函数，以获得所述输出端口的信号的参数值。

可选的，所述可调负载为可调电阻。