[发明专利]数字光电倍增器检测器元件有效

专利信息
申请号: 201210551889.3 申请日: 2012-12-18
公开(公告)号: CN103356219B 公开(公告)日: 2017-06-06
发明(设计)人: 金暎;朴宰彻;尹大健;李采勋;范镇旭;金京勋;李浚安 申请(专利权)人: 三星电子株式会社;西江大学校产学协力团
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03
代理公司: 北京市柳沈律师事务所11105 代理人: 刘虹
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 数字 光电 倍增器 检测器 元件
【权利要求书】:

1.一种用于断层扫描的光电倍增器检测器元件,该光电倍增器检测器元件包括:

检测器单元,接收具有一定范围的波长的光以便生成数字化的检测信号,该检测器单元包括被动抑制单元,该被动抑制单元包括电容器;

读出单元,被配置为生成与由检测器单元生成的检测信号相对应的输出信号,并且将该输出信号发送到外部电路,

其中,在接收到检测信号之后,读出单元马上将输出信号发送到外部电路。

2.如权利要求1所述的光电倍增器检测器元件,其中,所述读出单元不将检测信号存储在光电倍增器检测器元件中。

3.如权利要求1所述的光电倍增器检测器元件,其中,所述光电倍增器检测器元件中所包括的光电倍增器包括硅器件。

4.如权利要求1所述的光电倍增器检测器元件,其中,所述检测器单元包括:

光电二极管,其响应于所述具有一定范围的波长的光而生成要流动的电流;以及

主动复位单元,其连接到光电二极管的阴极,

其中,主动复位单元增加光电二极管的端子之间的电压差。

5.如权利要求4所述的光电倍增器检测器元件,其中,被动抑制单元连接到光电二极管的阴极并且当电流在光电二极管中流动时降低光电二极管的端子之间的电压差。

6.如权利要求5所述的光电倍增器检测器元件,其中施加到电容器的电压被控制。

7.如权利要求1所述的光电倍增器检测器元件,其中,所述检测信号响应于接收所述具有一定范围的波长的光而经历从第一电压电平到第二电压电平的转换,而且当停止接收所述具有一定范围的波长的光时经历从第二电压电平到第一电压电平的转换。

8.如权利要求1所述的光电倍增器检测器元件,其中,所述光电倍增器检测器元件被连接到闪烁体,该闪烁体接收辐射以生成所述具有一定范围的波长的光。

9.如权利要求8所述的光电倍增器检测器元件,其中,所述检测器单元接收由闪烁体生成的具有一定范围的波长的光,其中,所述具有一定范围的波长的光是具有400nm至450nm的波长的可见光。

10.一种用于断层扫描的辐射检测系统,该辐射检测系统包括光电倍增器检测器元件和累加器,

其中,光电倍增器检测器元件包括:

检测器单元,接收具有一定范围的波长的光以生成数字化的检测信号;

读出单元,被配置为生成与由检测器单元生成的检测信号相对应的输出信号,并且将该输出信号发送到累加器,

其中该检测器单元包括被动抑制单元,该被动抑制单元包括电容器,

其中,在检测器单元生成该检测信号之后,读出单元马上将输出信号发送到累加器,

其中,累加器被放置在光电倍增器检测器元件外部,并且基于由读出单元接收到的输出信号来测量辐射量。

11.如权利要求10所述的辐射检测系统,其中,所述读出单元不将该输出信号存储在光电倍增器检测器元件中。

12.如权利要求10所述的辐射检测系统,其中,所述光电倍增器检测器元件中所包括的光电倍增器包括硅器件。

13.如权利要求10所述的辐射检测系统,其中,所述累加器包括电流镜电路。

14.如权利要求13所述的辐射检测系统,其中,所述累加器包括多个电流镜,基于输出信号来导通或截止多个电流镜中的每一个的晶体管以生成多个数字信号,并且将多个数字信号发送到计数单元,其中,该计数单元基于该多个数字信号来测量辐射量。

15.如权利要求13所述的辐射检测系统,其中,所述电流镜的输出端子处的晶体管被连接到电阻器,并且基于该电阻器两端之间所施加的电压的强度来测量辐射量。

16.如权利要求10所述的辐射检测系统,其中,所述检测器单元包括:

光电二极管,其响应于所述具有一定范围的波长的光而生成要流动的电流;以及

主动复位单元,其连接到光电二极管的阴极,

其中,主动复位单元增加光电二极管的端子之间的电压差。

17.如权利要求16所述的辐射检测系统,其中,该被动抑制单元连接到光电二极管的阴极并且当电流在光电二极管中流动时降低光电二极管的端子之间的电压差。

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