[发明专利]非接触式三维物件测量方法与装置在审

专利信息
申请号: 201210549246.5 申请日: 2012-12-17
公开(公告)号: CN103791851A 公开(公告)日: 2014-05-14
发明(设计)人: 周明宏;林毓庭;李柏毅;郑智杰;张凯翔;苏耘德 申请(专利权)人: 财团法人工业技术研究院
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;G01B11/02;G01B11/26
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 陈小雯
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 接触 三维 物件 测量方法 装置
【权利要求书】:

1.一种非接触式三维物件测量方法,包括:

提供一三维物件的一三维轮廓模型;

依据该三维轮廓模型,建立一取像路径;

依据该取像路径,以一图像提取单元提取该三维物件的一二维图像;以及

于该二维图像上绘制一二维轮廓模型、或测量该二维图像的尺寸,该二维轮廓模型依据该取像路径及该三维轮廓模型所建立。

2.如权利要求1所述的非接触式三维物件测量方法,其中在建立该取像路径的步骤中,该取像路径包括一三维取像位置及一三维取像方向。

3.如权利要求2所述的非接触式三维物件测量方法,其中在建立该取像路径的步骤中,该取像路径还包括一取像范围。

4.如权利要求1所述的非接触式三维物件测量方法,还包括:

于该二维图像上绘制一网格线。

5.如权利要求4所述的非接触式三维物件测量方法,其中在绘制该网格线的步骤中,该网格线的间距实质上相同。

6.如权利要求1所述的非接触式三维物件测量方法,其中该二维轮廓模型具有一模型基准点,该二维图像具有一图像基准点,在该二维图像上绘制该二维轮廓模型的步骤中,系重叠该模型基准点及该图像基准点,以使该二维轮廓模型绘制于该二维图像的相对应位置。

7.如权利要求1所述的非接触式三维物件测量方法,其中在测量该二维图像的尺寸的步骤中,该二维图像的尺寸包括长度。

8.如权利要求1所述的非接触式三维物件测量方法,其中在测量该二维图像的尺寸的步骤中,该二维图像的尺寸包括角度。

9.如权利要求1所述的非接触式三维物件测量方法,其中在建立该二维轮廓模型的步骤中,该二维轮廓模型包括该三维物件的一轮廓线。

10.一种非接触式三维物件测量装置,包括:

一存储单元,系存储一三维物件的一三维轮廓模型;

一处理单元,依据该三维轮廓模型建立一取像路径或测量该三维物件的一二维图像的尺寸;

一图像提取单元;

一移动单元,用以依据该取像路径移动该图像提取单元,以使该图像提取单元提取该三维物件的一二维图像;以及

一显示单元,用以显示该二维图像,该处理单元于该二维图像上绘制一二维轮廓模型、或测量该二维图像的尺寸,该处理单元依据该取像路径及该三维轮廓模型,建立该二维轮廓模型。

11.如权利要求10所述的非接触式三维物件测量装置,其中该取像路径包括一三维取像位置及一三维取像方向。

12.如权利要求11所述的非接触式三维物件测量装置,其中该取像路径还包括一取像范围。

13.如权利要求10所述的非接触式三维物件测量装置,其中该处理单元更于该二维图像上绘制一网格线。

14.如权利要求13所述的非接触式三维物件测量装置,其中该网格线的间距实质上相同。

15.如权利要求10所述的非接触式三维物件测量装置,其中该二维轮廓模型具有一模型基准点,该二维图像具有一图像基准点,该处理单元重叠该模型基准点及该图像基准点,以使该二维轮廓模型绘制于该二维图像的相对应位置。

16.如权利要求10所述的非接触式三维物件测量装置,其中该二维图像的尺寸包括长度。

17.如权利要求10所述的非接触式三维物件测量装置,其中该二维图像的尺寸包括角度。

18.如权利要求10所述的非接触式三维物件测量装置,其中该二维轮廓模型包括该三维物件的一轮廓线。

19.如权利要求10所述的非接触式三维物件测量装置,其中该移动单元用以朝三个移动方向移动该图像提取单元。

20.如权利要求19所述的非接触式三维物件测量装置,其中该移动单元还用以摆动或转动该图像提取单元。

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